快速高精度电子元件温度特性测量仪的研制

发布时间：2017-09-02 06:17

  本文关键词：快速高精度电子元件温度特性测量仪的研制

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【摘要】：大多数电子元器件的性能受到工作温度的影响,其温度特性对设备稳定性和精确度的影响不容忽视;以半导体致冷器(TEC)为核心,ATMega128A单片机为控制芯片,采用PT100、高精度恒流源和AD7731数模转换器(ADC)组成温度测量模块,运用改进的PID控制算法,以脉冲宽度调制(PWM)方式驱动优化的H桥精确控制加热和制冷功率,结合优化设计的变温腔体,制作了快速、高精度电子元件温度特性测量仪;在-10~80℃之间快速、稳定控制待测元件的温度,控温精度达到±0.2℃;通过计算机控制数字万用表等测量设备,测量了电阻、电容和电感的温度特性曲线;该测量仪还可以用于IC、三极管和LED等元器件的温度特性曲线研究;在实验研究、工业生产和电子实验教学中均具备很高的实用价值。
【作者单位】： 中法核工程与技术学院中山大学;
【关键词】： 半导体致冷器 单片机 温度特性曲线
【基金】：国家自然科学基金青年基金(11302268)
【分类号】：TN606;TH811
【正文快照】： 0引言温度作为重要的环境参数,直接影响电子元器件的工作性能,55%的电子设备失效是由于温度过高引起[1],因此温升的控制以及电子元器件的温度漂移研究对于系统的可靠性十分关键[2]。对于半导体元件,温升将使晶体管的最大允许功耗下降,结温升高,会使P-N结击穿损坏[3]。温度的改，

本文编号：776851