基于Viterbi的低功耗确定性测试方案

发布时间：2017-09-13 00:00

  本文关键词：基于Viterbi的低功耗确定性测试方案

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【摘要】：随着集成电路制造技术的不断发展,芯片测试已经成为一个令人关注的热点.针对集成电路测试中存在测试数据量大、测试功耗高等问题,提出一种基于Viterbi的低功耗测试压缩方案.首先利用测试立方的X位做低功耗填充来增强解码后测试模式相邻位之间的一致性;然后以增加测试立方中的X位为目标进行分段相容编码,将填充后的大量确定位重新编码为X位,从而提高Viterbi压缩中种子的编码效率;最后利用Viterbi算法压缩编码后的测试立方集.整体方案以分段相容编码思想为基础,建立了一个协同解决测试压缩和测试功耗问题的测试流程.实验结果表明,文中方案不仅能取得较好的测试数据压缩率,减少测试存储量,而且能够有效地降低测试功耗,平均功耗降低53.3%.
【作者单位】： 合肥工业大学计算机与信息学院;合肥工业大学情感计算与先进智能机器安徽省重点实验室;合肥工业大学电子科学与应用物理学院;Department
【关键词】： 低功耗测试 测试数据压缩 分段相容编码 Viterbi算法
【基金】：国家自然科学基金(61204046,61474035,61306049);国家自然科学基金重点项目(61432004) 高等学校博士学科点专项科研新教师基金(2013JYXJ0650)
【分类号】：TN407
【正文快照】： 4)(Department of Information ScienceIntelligent Systems,Faculty of Engineering,The University of Tokushima,Tokushima 770-8506 Japan)(ct@hfut.edu.cn)在集成电路测试中,随着电路的规模和集成度越来越高,测试数据量不断增长,测试向量长度达到了几乎难以接受的程度;

【参考文献】

中国期刊全文数据库 前2条

1 陈田;梁华国;王伟;易茂祥;黄正峰;;基于优化编码的LFSR重播种测试压缩方案[J];计算机研究与发展;2012年02期

2 李扬;梁华国;刘军;胡志国;;基于部分测试向量切分的LFSR重新播种方法[J];计算机辅助设计与图形学学报;2007年03期

【共引文献】

中国期刊全文数据库 前8条

1 陈田;易鑫;郑浏e，

本文编号：840298