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基于Pareto支配的MPRM电路面积与可靠性优化

发布时间:2017-09-21 06:24

  本文关键词:基于Pareto支配的MPRM电路面积与可靠性优化


  更多相关文章: MPRM电路 可靠性优化 面积优化 SER解析评价模型 Pareto支配 多目标优化


【摘要】:针对MPRM(Mixed-Polarity Reed-Muller)电路的面积与可靠性折中优化问题,在逻辑级建立面积估算模型以及电路SER(Soft Error Rate)解析评价模型,并采用Pareto支配概念对MPRM电路进行面积与可靠性多目标优化.通过对MPRM电路的XOR部分进行树形异或门分解,并考虑多个输出之间异或门的共享,建立面积估算模型.采用信号概率和故障传播方法,并考虑电路中的逻辑屏蔽因素以及信号相关性,建立电路SER解析评价模型.根据所提出的面积和SER评价模型,采用极性向量的格雷码序穷举搜索MPRM的极性空间得到MPRM电路面积与可靠性的Pareto最优解集,并使用效率因子技术指标选取最终解.MCNC基准电路的实验结果表明,与面积最小MPRM电路相比,所选取的MPRM电路可以在较小面积开销的前提下获得较高电路可靠性.
【作者单位】: 井冈山大学电子与信息工程学院;同济大学软件学院;流域生态与地理环境监测国家测绘地理信息局重点实验室;
【关键词】MPRM电路 可靠性优化 面积优化 SER解析评价模型 Pareto支配 多目标优化
【基金】:国家自然科学基金(No.61432017) 流域生态与地理环境监测国家测绘地理信息局重点实验室资助课题(No.WE2016012) 吉安市科技局指导性科技计划(吉市科计字[2016]4-4)
【分类号】:TN406
【正文快照】: 1引言 随着集成电路技术和工艺的发展,无论是传统的CMOS器件,还是纳米器件,其缺陷率均不可避免的增加,同时对瞬时故障(Transient Fault,TF)的敏感度也不断增加[1,2].因此,电路可靠性问题成为一个不容忽视的问题,需要在电路设计流程的各个阶段考虑可靠性约束. RM(Reed-Muller

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本文编号:892894

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