掺铂和电子辐照对快恢复二极管性能的影响

发布时间：2017-09-29 02:19

  本文关键词：掺铂和电子辐照对快恢复二极管性能的影响

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【摘要】：寿命控制技术是现在广泛使用的方法,该方法旨在减少快恢复二极管(FRD)基区载流子寿命从而实现更小的反向恢复时间,同时不可避免地引起其他性能的变化。通过高能电子辐照和扩铂对1 200 V FRD进行了寿命控制,并对铂扩散和电子辐照样品在正向压降温度特性、静态和反向恢复特性等方面进行了对比分析,发现铂扩散样品随扩铂温度的增加,其击穿电压变大;高能电子辐照器件呈现电压正温度系数,其正向压降和反向恢复时间(VF-trr)折中曲线更靠近原点。实验结果表明,高能电子辐照样品具有更好的温度系数、更好的VF-trr折中特性,然而反向电流在125℃却高达约210μA。
【作者单位】： 北京工业大学电子信息与控制工程学院;
【关键词】： 寿命控制 扩铂 电子辐照 快恢复二极管(FRD) 深能级瞬态谱(DLTS)
【基金】：中国教育部博士基金资助项目(20111103120016) 国家电网公司科技项目(5455DW140003)
【分类号】：TN31
【正文快照】： 0引言快恢复二极管(fast recovery diode,FRD)作为开关器件被广泛应用于功率电子系统中。由于功率半导体器件开关速度的提高,特别是金属-氧化物半导体场效应晶体管(metal-oxide-semiconductorfield-effect transistor,MOSFET)和高速绝缘栅双极型晶体管(insulated gate bipolar

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本文编号：939420