长度折半的测试资源编码方法

发布时间：2017-09-30 03:38

  本文关键词：长度折半的测试资源编码方法

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【摘要】：编码方法通过压缩原始测试数据达到减少测试数据量的目的,是解决集成电路测试过程中测试数据量快速增长的有效方法之一。提出一种新的长度折半的测试数据编码方法,该方法首先对测试数据同时按0游程和1游程进行划分,然后对划分进行长度折半,编码。该方法既减少了编码的游程数量,又减少了编码的游程长度,可以在不增加代码长度的情况下增加能编码的游程长度。理论分析证明该方法具有极高的压缩效率,同时该方法解压结构简单,且独立于测试数据。实验结果表明:该方法平均压缩率达到65.13%。因此该方法具有很高的性价比,具有一定的应用价值。
【作者单位】： 安庆师范学院计算机与信息学院;安庆师范学院科研处;
【关键词】： 测试数据压缩 编码 折半 FDR(frequency directed run-length) EFDR(extended frequency directed run-length)
【基金】：国家自然科学基金(61540011,61306046) 安徽省高校省级自然科学研究重点项目(KJ2016A427,KJ2013A177)资助项目
【分类号】：TN407
【正文快照】： 1引言系统芯片功能越来越强大的同时,测试芯片的测试数据量也在以惊人的速度增长,SOC[1]的测试成为制约其设计和难的“瓶颈”[2]。昂贵的自动测试设备(automatic test equipment,ATE)在存储空间和I/O通道传输性能方面均难以跟上测试数据量的增长速度。而为了延长ATE的使用寿命

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本文编号：945971