全新参数分析仪降低特性分析复杂度

发布时间：2017-10-03 10:07

本文关键词：全新参数分析仪降低特性分析复杂度

【摘要】：正全面集成的Keithley 4200A-SCS参数分析仪,通过降低新用户或偶尔使用的用户面临的特性分析复杂度,简化测试设置,提供清楚精确的结果,加快了用户获得半导体器件、材料和工艺洞察力的速度。Keithley 4200-SCS参数分析仪已经取得了巨大的成功,在此基础上,新推出的4200A-SCS仪器采用现代工业设计,拥有全新图形用户界面及多种自学工具,如仪器内嵌的专家指导视频。
【关键词】： 参数分析;现代工业设计;半导体器件;图形用户界面;全面集成;特性分析;可靠性测试;四通道;设置时间;易用性;
【分类号】：TN307
【正文快照】： 全面集成的Keithley 4200A-SCS参数分析仪,通过降低新用户或偶尔使用的用户面临的特性分析复杂度,简化测试设置,提供清楚精确的结果,加快了用户获得半导体器件、材料和工艺洞察力的速度。 Keithley 4200-SCS参数分析仪已经取得了巨大的成功,在此基础上,新推出的4200A—SCS仪

【相似文献】

中国期刊全文数据库前10条

1 刘英;;脉宽的测量和参数分析[J];电子信息对抗技术;2007年05期

2 ;安捷伦参数分析仪以更低成本提供更快速的脉冲和更丰富的功能[J];电信技术;2013年07期

3 黄海涛;王伟国;;高压P阱LDMOS的结构分析及其参数分析[J];集成电路应用;2003年12期

4 曲洪波;王玉坤;丁新心;刘伟;黄广轶;;基于CygnalC8051F系列SOC电力参数分析仪的设计和实现[J];工业计量;2007年S1期

5 宫丽;张秀芳;;基于虚拟仿真平台的电路波形的时间参数分析[J];数字技术与应用;2014年05期

6 文汝红;;光谱位相相干电场法的参数分析及测量[J];应用光学;2012年06期

7 张念军;郭锋;黎恒;钟英;杨凯;;基于MATLAB与LabVIEW的Mie散射参数分析系统[J];应用光学;2013年06期

8 王庆祥;孟丽娅;刘泽东;王成;;CMOS工艺APS阵列的近红外响应及参数分析[J];激光与红外;2014年02期

9 沈森祖,石坚,郭卓梁;集成电路变量的相关性研究[J];电子测量与仪器学报;1998年02期

10 ;[J];;年期