电感耦合等离子体质谱法测定高锡地质样品中的痕量镉

发布时间：2021-01-11 03:59

　　应用电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）测定地质样品中的痕量镉,存在多种质谱干扰,通常采用在线或离线方程进行校正,当样品中含锡较高时,采用传统固定系数校正方程,易导致测定结果有明显偏离,甚至结果出现负数。本文针对含高锡的地质样品,应用ICP-MS测定其中的镉,采用氢氟酸-高氯酸-硝酸敞开酸溶消解、硝酸浸提体系处理样品,通过测定¹¹¹Cd、¹¹³Cd、¹¹⁴Cd同位素,研究了干扰元素Sn、In、Zr、Mo对镉测定的影响。结果表明镉与干扰源浓度变化呈非简单的正相关性。①同质异位素Sn或In产生的干扰增值Δ(¹¹⁴Cd/¹¹⁴Sn或¹¹³Cd/¹¹³In)随干扰源浓度增大逐渐变大,¹¹⁴Sn对¹¹⁴Cd的干扰系数在0.0272～0.0222,¹¹³In对¹¹³Cd的干扰系数在0.0670～0.0412;②Zr和Mo在测定条件下形成氧化物和多原子复合离子... 

【文章来源】：岩矿测试. 2020,39(01)北大核心

【文章页数】：8 页

【文章目录】：
要点:
1 实验部分
    1.1 仪器与工作条件
    1.2 标准溶液和主要试剂
    1.3 样品制备
        1.3.1 样品来源
        1.3.2 样品前处理
2 结果与讨论
    2.1 同质异位素叠加干扰及校正
    2.2 难熔氧化物和多原子复合离子干扰及校正
    2.3 方法准确度和精密度
3 结论
HIGHLIGHTS


【参考文献】：
期刊论文
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本文编号：2970037