高压覆膜制样-X射线荧光光谱法测定多金属矿中的多种元素

发布时间：2021-12-24 22:50

　　采用新的制样技术——高压（1 800kN）覆膜（3.6μm Polyester Film）制样,波长色散X射线荧光光谱测定多金属矿中19种组分。该制样技术对高硅锌矿石GBW07237（SiO₂ 82.95%）,不加黏结剂,也能制出理想的样片。测定结果显示1 800kN制备样品多数组分的灵敏度、精密度和检出限较400kN制备的样品有所改善。15个多金属矿标准物质建立校准曲线,使用Rh Kα的瑞利散射线作内标测定Cu、Pb、Zn、As和Rh K_α的康普顿散射线作内标测定Sb、Ag、Sn、Bi、Mo及经验系数法校正基体效应。Cu、Pb、Zn、Mn、As、Sb、Ag、Sn、Bi、Mo的测定结果与化学法相符,可同时分析其中的Cd、S、Fe、SiO₂、Al₂O₃、MgO、CaO、Na₂O、K₂O等成分。实现了固体直接进样测定多金属矿中的多种元素。高压覆膜制样技术是制样技术的突破,国内外尚未见报道。 

【文章来源】：中国无机分析化学. 2020,10(02)

【文章页数】：5 页

【部分图文】：

400kN、1 800kN压力覆膜压制的GBW07237样片

【参考文献】：
期刊论文
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本文编号：3551335