相似材料模型中控制点像点坐标定位研究

发布时间：2020-03-13 04:14

【摘要】：将近景摄影测量技术用于相似材料模型变形测量是一种新的方法,模型量测的精度主要依赖于定位算法的精度。在此基础上,本文设计了一种应用于相似材料模型的标志,实现了两种算法自动识别该标志,并对结果进行精度比较,得出更适合于相似材料模型的一种算法。

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本文编号：2586692