一种基于热释电效应的X射线荧光分析谱仪
本文关键词:一种基于热释电效应的X射线荧光分析谱仪
【摘要】:利用热释电晶体实现了一个X射线激发源,并以此激发源和高能量分辨率的硅漂移探测器构建了一个X射线荧光分析谱仪。首先通过分析计算热释电晶体厚度和靶厚度对产生X射线的影响选定了激发源的设计参数;然后测量了激发源发射的X射线本底,其能量范围在1~27keV,包含有Cu和Ta的特征X射线,最大强度在每秒3 000个计数以上,对本底的测量同时显示出谱仪的探测器部分对Cu的8.05keV特征峰的分辨率达到210eV,具有很高的能量分辨率;最后使用该谱仪测试了Fe,Ti和Cr等三种单质样品和高钛玄武岩样品,测试结果表明该谱仪可以有效的分析出样品的元素成分。由于这种X射线荧光分析谱仪的各组成部分体积都很小,进一步便携化后非常适合于非破坏、现场和快速的元素分析场合。
【作者单位】: 中国科学院高能物理研究所粒子天体物理重点实验室;中国科学院大学;
【基金】:国家自然科学基金项目(11105161)资助
【分类号】:O657.34
【正文快照】: 引言X射线荧光分析作为一种成熟的元素分析方法已经被广泛应用于冶金、地质和建筑等各个领域[1]。X射线荧光分析仪有光谱仪和能谱仪两种类型,其中能谱仪通过测量X射线荧光光子的能量来鉴别元素成分,具有设备更小、更简单、无需制备样品等优点,尤其适用于非破坏、快速和现场分
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