SIMS测定玻璃固化样品中铀分布的分析方法研究

发布时间：2017-11-23 21:31

  本文关键词：SIMS测定玻璃固化样品中铀分布的分析方法研究

  更多相关文章： 玻璃固化体 浸出行为 二次离子质谱 铀 同位素丰度

【摘要】：玻璃固化是一种常用的高放废液固化方法,其优点在于具有较高的抗化学介质侵蚀的能力和很好的辐照稳定性、热稳定性和机械稳定性,其不足之处在于抗水浸出等性能有所下降而使其安全性需要进一步通过抗浸出实验来进行衡量和确认。使用二次离子质谱(SIMS)分析玻璃固化体中的放射性成分(如铀元素)的分布及浸出行为等各项指标,是一种评估玻璃固化体抗浸出性能的分析手段。本文应用SIMS测试模拟玻璃固化体,以碳作为镀膜材料通过真空蒸发镀碳的方法优化样品制备条件,有效地解决了样品导电性差的问题,~(235)U/~(238)U同位素测定结果约为7.9‰±0.395‰,基本符合制作模拟样品时所使用的天然铀的同位素特征(~(235)U/~(238)U参考值约7.3‰)。研究表明,建立的方法实现了铀元素同位素丰度的测量,能直接显示铀的分布情况,该方法可为研究玻璃固化体中放射性元素的浸出行为提供一定的技术支持。
【作者单位】： 中国原子能科学研究院;
【基金】：国防预研基金资助项目
【分类号】：TL941.33;O657.63
【正文快照】： 随着核工业的发展,人类在获取核能的同时,也将面对核废物处理与处置问题,放射性废物的妥善处置尤其是高放废液的安全处置是十分重要的。一般认为,将放射性废液减容固化后长期储存在合适的地质层中是最安全可行的最终处置方案。玻璃固化技术作为处理高放废液的手段被开发出来,

【相似文献】

中国期刊全文数据库 前10条

1 陈宇,范垂祯;离子注入样品的二次离子质谱(SIMS)定量分析[J];质谱学报;1992年01期

2 梁汉东 ,于春海 ,周强 ,李艳芳;TOF SIMS Study on PAHs in Individual Particle from a Power Station[J];Journal of China University of Mining & Technology;2001年02期

3 周强,李金英,梁汉东,伍昌平;二次离子质谱(SIMS)分析技术及应用进展[J];质谱学报;2004年02期

4 刘义为,Moulder JF,Vlasak PR,蒋致诚;XPS和TOF-SIMS在硬盘驱动器(HDD)磁头表面微污染分析中的应用[J];理化检验(化学分册);2001年02期

5 李越生,方培源 ,宗祥福;Mg在GaP材料中掺杂行为的SIMS分析[J];质谱学报;2000年Z1期

6 左丹英,王荧荧,梁汉东;噻吩浸染金表面的TOF-SIMS的研究[J];质谱学报;2000年Z1期

7 何友琴;马农农;王东雪;;硅中氧、碳的二次离子质谱(SIMS)分析[J];现代仪器;2010年02期

8 何友琴;马农农;王东雪;;硅中氮的二次离子质谱(SIMS)定量分析[J];现代仪器;2011年03期

9 姜志雄,查良镇,王佑祥,陈春华,陈新;原子团离子在Al_(x)Ga(1-x)As基体组分SIMS定量分析中的应用[J];真空科学与技术;1996年05期

10 胡刚,赵敏寿,吕翔平;用XPS、SIMS对稀土-6063铝合金表面状态的研究[J];中国稀土学报;1990年04期

中国重要会议论文全文数据库 前2条

1 Benninghoven;X.Q. Zhou;;Surface and Thin Layer analysis by TOF-SIMS[A];2001年纳米和表面科学与技术全国会议论文摘要集[C];2001年

2 方培源;曹永明;;SOI材料中绝缘层界面处离子注入氟的SIMS剖析[A];2005年全国无机质谱、同位素质谱和质谱仪器学术报告会论文集[C];2005年

中国硕士学位论文全文数据库 前2条

1 石坚;TOF-SIMS分析测试技术研究[D];吉林大学;2016年

2 武昌平;二次离子质谱（SIMS）分析混合堆材料表面涂层成份深度分布的方法研究[D];中国原子能科学研究院;2004年

，

本文编号：1219886