二维平板光子晶体的等效负折射率测量

发布时间：2018-05-26 02:27

  本文选题：材料 + 光子晶体　； 参考：《光学学报》2017年06期

【摘要】：光子晶体特殊的色散特性能导致负折射现象发生。用波束位移法对二维光子晶体平板的负折射现象进行理论计算和实验测量,得到了入射光经平板光子晶体折射后的二维光场分布。测量结果表明,横电(TE)光在光子晶体中发生负折射,出射光沿出射面产生了反方向的横向位移,由此计算出来的负折射率约为-0.44,而横磁(TM)光没有发生负折射。实验结果与仿真结果吻合较好。
[Abstract]:The special dispersion characteristics of photonic crystals can lead to negative refraction. The negative refraction of two-dimensional photonic crystal plate was calculated and experimentally measured by beam displacement method. The two-dimensional field distribution of incident light refracted by flat photonic crystal was obtained. The measurement results show that the transverse light is negatively refracted in the photonic crystal, and the transverse displacement of the outgoing light is in the opposite direction. The calculated negative refractive index is about -0.44, but the transverse magnetic TM) light has no negative refraction. The experimental results are in good agreement with the simulation results.
【作者单位】： 上海理工大学光电信息与计算机工程学院;江西师范大学物理与通信电子学院;
【基金】：国家自然科学基金(61177043) 国家青年科学基金(61308096) 江西省青年科学基金(2011ZBAB215036)
【分类号】：O734

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