波长检测型表面等离子体共振传感器对硫堇电聚合成膜的原位分析

发布时间：2018-06-07 22:38

本文选题：表面等离子体共振 + 电化学聚合　；参考：《高等学校化学学报》2017年04期

【摘要】：利用波长检测型表面等离子体共振(SPR)传感器对硫堇在金膜表面的电化学聚合成膜过程进行了跟踪分析.结果表明,在固定入射角下SPR共振波长随循环伏安扫描周数的增加而线性红移,表明聚硫堇膜的生长是匀速的;扫描100周后共振波长红移总量为96.6 nm.对该实验结果进行理论拟合,得出聚硫堇膜的厚度约为71 nm.聚硫堇膜在酸性缓冲液中的电化学活性很高,其电化学反应过程受扩散控制,在一个完整的循环伏安扫描过程中SPR共振波长的变化完全可逆,说明聚硫堇膜的氧化反应和还原反应是一对可逆过程.与还原态聚硫堇膜相比,氧化态聚硫堇膜对应的SPR共振波长较大,说明氧化态聚硫堇膜折射率高.
[Abstract]:The results show that the SPR resonant wavelength is uniform at fixed angle of incidence , and the total amount of the resonant wavelength is 96 . 6 nm after 100 weeks of scanning . The results of this experiment are theoretically fitted to show that the thickness of the polythionine film is about 71 nm . The oxidation reaction and reduction reaction of the polythionine film are completely reversible . The SPR resonance wavelength corresponding to the oxidized polythionine film is larger than that of the reduced polysulfide .
【作者单位】：中国科学院电子学研究所传感技术国家重点实验室;中国科学院大学;国民核生化灾害防护国家重点实验室;
【基金】：国家“九七三”计划项目(批准号:2015CB352100) 国家自然科学基金(批准号:61377064,61675203) 中国科学院科研装备研制项目(批准号:YZ201508)资助~~
【分类号】：O657.1

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