脉冲激光烧蚀制备纳米硅晶粒过程中稳定晶核大小研究
发布时间:2020-03-05 15:34
【摘要】:采用蒙特卡罗方法,模拟了脉冲激光烧蚀制备纳米硅晶粒的动力学过程.在模拟中采用了成核长大模型,对室温下的硅晶粒成核过程中稳定晶核所含硅原子数目进行了研究.经过大量的计算以及与实验数据的比较,发现当稳定晶核所含硅原子数目为6时,计算得出的纳米硅晶粒平均尺寸分布规律与实验数据符合较好.
【图文】:
了研究纳米Si晶粒成核过程,在模拟过程中对稳定硅晶核所含的硅原子数目n进行了多种假设,n在2~10取值分别进行计算,计算得出在烧蚀点下方2cm处平行于羽辉轴的水平方向上纳米硅晶粒尺寸分布情况.经过大量计算以及与实验比较,发现当稳定晶核所含硅原子数目为6时,理论计算结果与实验符合的较好.由于篇幅限制,这里给出n为2和6时2种典型情况下的计算结果,如图2b和图2c所示.a.实验数据;b、c.模拟计算出的纳米硅晶粒平均尺寸大小,分别对应稳定晶核所含硅原子数目为2和6.图2纳米硅晶粒平均尺寸分布Fig.2Averagesizedistributionofsiliconnanoparticles由图2可见,当稳定晶核所含硅原子数目为6时,计算结果与实验数据符合较好.纳米硅晶粒的平均尺寸随着到靶的距离的增加不断增大,在2.0cm处达到最大,随后随着距离的增加晶粒平均尺寸开始逐渐减小.而且,压强对晶粒的平均尺寸有明显影响,压强增加,晶粒的平均尺寸增加,50Pa时晶粒的平均尺寸达到最大,,之后压强增加晶粒的平均尺寸开始减小,但是晶粒平均尺寸的最大值都出现在2.0cm处.计算中用硅晶粒所含硅原子数来表示硅晶粒的大小,而实验中测量的硅晶粒尺寸单位是nm,两者之间是非线性关系,这是造成理论计算结果与实验数据之间差异的重要原因.575
本文编号:2585039
【图文】:
了研究纳米Si晶粒成核过程,在模拟过程中对稳定硅晶核所含的硅原子数目n进行了多种假设,n在2~10取值分别进行计算,计算得出在烧蚀点下方2cm处平行于羽辉轴的水平方向上纳米硅晶粒尺寸分布情况.经过大量计算以及与实验比较,发现当稳定晶核所含硅原子数目为6时,理论计算结果与实验符合的较好.由于篇幅限制,这里给出n为2和6时2种典型情况下的计算结果,如图2b和图2c所示.a.实验数据;b、c.模拟计算出的纳米硅晶粒平均尺寸大小,分别对应稳定晶核所含硅原子数目为2和6.图2纳米硅晶粒平均尺寸分布Fig.2Averagesizedistributionofsiliconnanoparticles由图2可见,当稳定晶核所含硅原子数目为6时,计算结果与实验数据符合较好.纳米硅晶粒的平均尺寸随着到靶的距离的增加不断增大,在2.0cm处达到最大,随后随着距离的增加晶粒平均尺寸开始逐渐减小.而且,压强对晶粒的平均尺寸有明显影响,压强增加,晶粒的平均尺寸增加,50Pa时晶粒的平均尺寸达到最大,,之后压强增加晶粒的平均尺寸开始减小,但是晶粒平均尺寸的最大值都出现在2.0cm处.计算中用硅晶粒所含硅原子数来表示硅晶粒的大小,而实验中测量的硅晶粒尺寸单位是nm,两者之间是非线性关系,这是造成理论计算结果与实验数据之间差异的重要原因.575
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