大尺寸Y方向钽酸镓镧压电晶体生长及性能研究
发布时间:2022-02-10 01:32
成功采用提拉法生长了尺寸?80 mm×100 mm的Y方向钽酸镓镧压电晶体,晶体整体透明、无包裹体。采用LCR电桥测量了晶体的相对介电常数,采用谐振-反谐振法测量了压电应变常数。研究了头尾之间性能差异性,头尾频率常数均匀性达到99.95%,表明晶体存在良好的性能均匀性。此外,还对(010)晶面进行了摇摆曲线和频率温度系数测试,测得FHMW和TCF值分别为38.5″、1.23ppm/K。
【文章来源】:人工晶体学报. 2020,49(06)北大核心
【文章页数】:4 页
【部分图文】:
(010)面摇摆曲线
图2为(010)面的XRD摇摆曲线,曲线的峰形尖锐,强度高,峰形对称性好,半高全峰宽(FHMW)为38.5″,表明晶体结构完整,结晶性良好。图2 (010)面摇摆曲线
S= min(Ν 头 ,Ν 尾 ) max(Ν 头 ,Ν 尾 ) ×100% (7)式中N头—晶体等径部分头部所取测试片测得的频率常数,N尾—等径部分尾部所取测试片测得的频率常数。晶体头尾频率测试均匀性测试结果为99.95%,表明晶体具有良好的均匀性。
本文编号:3618004
【文章来源】:人工晶体学报. 2020,49(06)北大核心
【文章页数】:4 页
【部分图文】:
(010)面摇摆曲线
图2为(010)面的XRD摇摆曲线,曲线的峰形尖锐,强度高,峰形对称性好,半高全峰宽(FHMW)为38.5″,表明晶体结构完整,结晶性良好。图2 (010)面摇摆曲线
S= min(Ν 头 ,Ν 尾 ) max(Ν 头 ,Ν 尾 ) ×100% (7)式中N头—晶体等径部分头部所取测试片测得的频率常数,N尾—等径部分尾部所取测试片测得的频率常数。晶体头尾频率测试均匀性测试结果为99.95%,表明晶体具有良好的均匀性。
本文编号:3618004
本文链接:https://www.wllwen.com/kejilunwen/huaxue/3618004.html
教材专著