DDR总线信号完整性分析技术研究

发布时间：2017-04-06 01:10

  本文关键词：DDR总线信号完整性分析技术研究，由笔耕文化传播整理发布。

【摘要】：随着DDR技术的发展,其总线速率不断上升,工作电压不断下降,使得信号完整性的问题越来越突出。传统的DDR总线分析方法存在一定的局限性,导致DDR总线的仿真分析结果与实际波形的偏差较大,使得通过仿真方法指导产品设计的意义下降。 本论文从信号完整性理论入手,介绍了传输线理论、反射串扰理论、电源完整性理论。并以此为基础,系统地阐述DDR中最典型的同步开关噪声(SSN)现象的形成机理,并对DDR中最重要的时序计算方法进行了详细的阐述。针对如何提高DDR仿真精度,本文基于Power-aware SI技术系统地提出了DDR总线中晶体管、硅片电路、封装基板、PCB等模块对应的不同Power-aware SI模型构建方法,并将这些模块的模型结合在一起,构建了完整的DDR仿真系统,实现真正意义上的系统级分析方法。论文基于Power-aware SI技术在时域上同时模拟出了高精度的信号和电源波形,完成动态时序分析计算。论文提出的方法大大提高了DDR总线系统仿真分析的精度,对产品设计有很重要的实际指导意义。
【关键词】：DDR 信号完整性 Power-aware SI 同步开关噪声(SSN) 时序分析
【学位授予单位】：华东理工大学
【学位级别】：硕士
【学位授予年份】：2015
【分类号】：TP336;TN911.6
【目录】：

• 摘要5-6
• Abstract6-9
• 第1章 绪论9-15
• 1.1 研究背景与意义9-12
• 1.1.1 信号完整性分析简介9
• 1.1.2 DDR总线简介9-10
• 1.1.3 DDR信号完整性分析概述10-11
• 1.1.4 Power-aware SI概述11-12
• 1.1.5 DDR中Power-aware SI的分析意义12
• 1.2 国内外信号仿真的研究现状12-13
• 1.2.1 国外信号仿真的研究现状12-13
• 1.2.2 国内信号仿真的研究现状13
• 1.3 本文研究的主要内容13-15
• 第2章 信号完整性基础理论15-26
• 2.1 传输线理论15-17
• 2.2 反射17-19
• 2.3 串扰19-20
• 2.4 电源完整性理论20-26
• 2.4.1 电源分配系统22-23
• 2.4.2 去耦电容23-26
• 第3章 DDR总线信号完整性分析技术研究26-43
• 3.1 SSN/SSO形成机理26-29
• 3.2 DDR总线时序计算29-32
• 3.2.1 源同步时钟29
• 3.2.2 源同步时序计算方法29-32
• 3.3 DDR总线信号完整性建模技术研究32-43
• 3.3.1 晶体管电路模型33-37
• 3.3.2 硅片金属连接层模型37-39
• 3.3.3 封装基板/PCB板模型39-41
• 3.3.4 DDR系统的Power-aware SI模型41-43
• 第4章 基于Power-aware SI的DDR案例分析与优化43-54
• 4.1 DDR仿真案例选定43-44
• 4.2 构建DDR系统的Power-aware SI模型44
• 4.3 利用Power-aware SI模型分析DDR系统44-48
• 4.4 利用Power-aware SI模型优化DDR系统48-50
• 4.5 基于Power-aware SI分析结果的时序计算50-54
• 第5章 总结与展望54-56
• 参考文献56-59
• 致谢59

【参考文献】

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本文编号：288005