带微处理器数字电路的故障测试研究

发布时间：2017-04-23 22:05

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【摘要】：随着电子技术的发展,电子设备越来越多地实现了智能化,其关键是采用了微处理器电路。如何对带有微处理器的数字电路进行测试和故障诊断已成为智能电子设备生产和维修中必须解决的一个难题。因此,研究带微处理器电路的故障测试,建立有效的测试方法变得十分有意义。论文以智能化设备中的重要部分(带微处理器电路)为研究对象,从带微处理器电路的特点和测试需求研究出发,较为系统地研究了带微处理器电路测试系统的设计、主要故障类型、测试算法等问题。论文完成的主要工作和成果如下:(1)给出了一种带处理器数字电路测试系统的设计方案。并对系统的功能组成、主要性能指标、工作原理以及各部分的作用进行了讨论。(2)针对带微处理器电路具有总线结构,利用常规仪器仪表测试总线电路存在测试速度慢、定位故障困难的问题,提出了一种基于JTAG电路的总线测试与故障诊断的方法,试验结果表明,这种方法具有电路设计简单,测试速度快的特点。(3)针对带微处理器电路存在大容量存储器件的问题。论文对ROM、RAM等的测试诊断问题进行了重点研究。研究内容主要包括存储器的故障类型、只读存储器和随机存储器的测试算法,以及采用总线仿真技术实现对ROM、RAM测试的电路实现方法,并进行了初步实验研究。(4)针对目前超大规模集成电路和存储器采用内建自测试技术的实际,论文研究了内建自测试技术的原理与测试方法。
【关键词】：微处理器 存储器 测试 故障诊断 总线仿真
【学位授予单位】：湖北工业大学
【学位级别】：硕士
【学位授予年份】：2015
【分类号】：TP332;TN79
【目录】：

• 摘要5-6
• Abstract6-7
• 目录7-9
• 第1章 绪论9-19
• 1.1 课题的来源及背景9-10
• 1.2 电路测试的概述10-13
• 1.2.1 模拟电路测试10-11
• 1.2.2 数字电路测试11
• 1.2.3 带微处理器数字电路测试11-13
• 1.3 国内外带微处理器电路测试研究的现状13-17
• 1.4 本文主要的研究内容17-19
• 第2章 带微处理器数字电路测试系统19-28
• 2.1 测试原理19-20
• 2.2 测试系统功能组成与指标20-22
• 2.2.1 复杂集成电路在线测试仪20-21
• 2.2.2 带微处理器电路测试系统21
• 2.2.3 主要技术指标21-22
• 2.3 总线仿真测试子系统22-25
• 2.3.1 总线仿真器的工作原理22-24
• 2.3.2 总线仿真器测试软件平台24-25
• 2.4 基于边界扫描的总线测试子系统25-27
• 2.4.1 总线测试原理25
• 2.4.2 边界扫描数据加载电路原理25-27
• 2.4.3 基于边界扫描的总线测试诊断软件27
• 2.5 本章小结27-28
• 第3章 带微处理器电路的故障类型28-32
• 3.1 总线故障类型28-29
• 3.2 存储器故障类型29-30
• 3.2.1 存储器的分类29
• 3.2.2 存储器故障类型29-30
• 3.3 I/O的故障类型30-31
• 3.4 处理器故障31
• 3.5 本章小结31-32
• 第4章 带微处理器电路的测试方法32-44
• 4.1 总线测试方法32-36
• 4.1.1 图形测试32-33
• 4.1.2 基于JTAG的总线测试电路33-36
• 4.2 只读存储器测试原理和测试方法36-37
• 4.3 随机存储器的测试方法37-43
• 4.3.1 随机存储器的测试算法38-41
• 4.3.2 随机存储器内建自测试技术41-43
• 4.4 本章小结43-44
• 第5章 测试方法的实现44-52
• 5.1 总线测试44
• 5.2 对只读存储器的测试44-48
• 5.3 对随机存储器的测试48-51
• 5.3.1 仿真技术简介48-49
• 5.3.2 程序实现及仿真49-51
• 5.4 本章小结51-52
• 第6章 总结与展望52-53
• 6.1 全文总结52
• 6.2 工作展望52-53
• 参考文献53-56
• 致谢56-57
• 附录#@@

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本文编号：323084