电子计算机中电子产品的可靠性研究

发布时间：2017-05-13 15:28

  本文关键词：电子计算机中电子产品的可靠性研究，，由笔耕文化传播整理发布。

【摘要】：电子产品的可靠性是影响其产品质量的关键因素之一,而且随着控制系统大型化,涉及众多电子元件,其单个元件的故障会影响整个系统的正常工作。因此近年来对元件可靠性能的重视程度越来越高,需要在预定的环境和满足可靠性指标的条件下,对电子产品可靠性进行测试,世界各发达国家已把可靠性技术和全面质量管理紧密地集合起来,以提高产品的可靠性水平。本文依据国家相关标准和参考业内有关流程,对使用龙芯CPU的电子计算机电子产品开展可靠性试验研究,即进行了可靠性试验,能够对开关机、交变湿热、温度冲击、机械冲击、机械振动等性能指标进行全面测试。通过制定合理的可靠性试验计划和严谨的试验步骤,进而结合各项试验的结果,通过失效分析找出失效机理,发现设计的缺陷或生产制造的漏洞与不足,同时,针对失效的样品,对A电子产品进行功能性验证,初步推断问题产生原因,并使用X-Ray和Cross-section等更为专业的检测手段,对PCB氧化分析、PCB封装手段、回流焊工艺进行分析、改善和验证工作,解决失效问题。最后将反馈分析的结果于设计和制造,以指导该电子产品的设计优化和生产制造的改良,以达到提高该电子产品性能和品质,降低产品成本的目的。
【关键词】：电子产品 可靠性 试验
【学位授予单位】：华东理工大学
【学位级别】：硕士
【学位授予年份】：2016
【分类号】：TP302.7
【目录】：

• 摘要5-6
• Abstract6-9
• 第1章 绪论9-13
• 1.1 研究背景9-10
• 1.2 电子产品可靠性试验研究现状10-12
• 1.3 本文章节内容安排12-13
• 第2章 电子产品可靠性试验概述13-17
• 2.1 可靠性的研究模型13-14
• 2.2 可靠性试验的定义14
• 2.3 可靠性试验的分类及目的14-16
• 2.4 步进应力加速寿命的试验16
• 2.5 本章小结16-17
• 第3章 A电子产品的可靠性试验方案与失效分析17-30
• 3.1 可靠性试验的一般要求17-18
• 3.1.1 试验类型的选择的要求17
• 3.1.2 可靠性试验设计的要求17
• 3.1.3 试验样品的要求17-18
• 3.1.4 试验实施的要求18
• 3.1.5 样品的检测要求18
• 3.2 A电子产品可靠性试验的设计18-24
• 3.2.1 试验类型的选择18-19
• 3.2.2 定时截尾试验方案的设计19-21
• 3.2.3 试验条件的选择及试验周期的设计21-24
• 3.3 失效分析24-27
• 3.3.1 失效分析的目的和意义25
• 3.3.2 失效分析的基本内容及要求25-26
• 3.3.3 主要失效模式及失效机理26-27
• 3.4 A电子产品失效分析技术27-29
• 3.4.1 以失效分析为目的的电测技术27
• 3.4.2 无损失效分析技术27-28
• 3.4.3 显微形貌像技术28
• 3.4.4 扫描电镜分析技术28
• 3.4.5 以测量电压效应为基础的失效分析定位技术28
• 3.4.6 以测量电流效应为基础的失效分析定位技术28-29
• 3.5 A电子产品失效分析的程序29
• 3.6 本章小结29-30
• 第4章 A电子产品的可靠性试验过程30-45
• 4.1 试验方案30
• 4.2 试验项目30-39
• 4.3 试验结果与分析39-43
• 4.3.1 开关机试验结果与失效分析及改进措施39
• 4.3.2 交变湿热试验结果与失效分析及改进措施39
• 4.3.3 温度冲击试验结果与失效分析及改进措施39-40
• 4.3.4 机械冲击试验与分析及改进措施40-41
• 4.3.5 机械振动试验结果与分析及改进措施41-42
• 4.3.6 跌落试验结果与分析及改进措施42-43
• 4.3.7 静电放电试验结果与分析及改进措施43
• 4.4 试验总结43-45
• 第5章 结论与展望45-47
• 参考文献47-51
• 致谢51

【参考文献】

中国期刊全文数据库 前10条

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本文编号：362946