存储器故障与可靠性试验研究

发布时间：2017-05-19 08:19

  本文关键词：存储器故障与可靠性试验研究，由笔耕文化传播整理发布。

【摘要】：存储器因其优良的性能,现在已经大规模地应用于数据处理、移动通信、嵌入式系统和智能设备等高新现代技术产业之中。存储器容量由八十年代的几KB,到如今的几个TB；尤其是最近几年,存储器的容量扩展的趋势更加之大；如今的存储器功能丰富,应用于各种高新技术之中,极大丰富了电子产品功能能。存储器存取速度速度、容量、功能在发生巨大变化,这些优质的存储器发展对其测试验证无疑提出了更高的要求。这些高性能的存储器容量大,存储单元密度增加而带来的单元之间干扰性概率增大,对存储器的可靠性保证提出了更高的要求。本文首先分析了国内外存储器发展状况以及集成电路测试系统,研究NAND闪存存储器的测试技术和半导体存储器故障模型,分析存储器全“1”、全“0”图形测试算法和奇偶图形检测方法,并在齐步图形的基础上优化而提出两者结合的齐步-走步测试算法。文中试验部分采用ATE测试系统对目标芯片NAND闪存进行AC\DC参数测试和功能测试,文中最后介绍了集成电路可靠性分析技术,以及结合试验数据对存储器耐久性可靠性进行分析,研究了存储器擦除对扇区可靠性的影响,以及在读写应力条件下,存储单元阈值点电压分布。文章通过对存储器工作原理分析,测试NAND Flash存储器DC/AC参数,同时提出改进了的齐步-走步图形算法,全覆盖测试存储单元,并优化了NAND为存存储器的可靠性技术,在测试数据的基础上研究电压应力条件与存储单元之间可靠性关系。
【关键词】：集成电路 存储器 闪存测试 图形算法 故障模型 可靠性
【学位授予单位】：广东工业大学
【学位级别】：硕士
【学位授予年份】：2016
【分类号】：TP333
【目录】：

• 摘要4-5
• Abstract5-10
• 第一章 绪论10-18
• 1.1 课题背景10-11
• 1.2 国内外发展情况11-13
• 1.3 集成电路测试系统发展概况13-15
• 1.4 课题研究意义15-16
• 1.5 论文结构16-18
• 第二章 半导体存储器测试原理18-34
• 2.1 存储器的结构和工作原理18-26
• 2.1.1 只读型存储器18-21
• 2.1.2 随机存储器21-26
• 2.2 存储器的失效机理和故障模式26-28
• 2.2.1 失效机理26
• 2.2.2 故障模式26-28
• 2.3 存储器的故障模型及验证方法28-33
• 2.3.1 存储器主要故障类型29
• 2.3.2 存储器故障模型分析29-33
• 2.4 本章小结33-34
• 第三章 存储器测试方法研究34-43
• 3.1 图形算法在存储器测试中的作用34-35
• 3.2 测试图形特征分析35-38
• 3.2.1 地址和数据35
• 3.2.2 背景图形和前景图形35-36
• 3.2.3 主检单元T和干扰单元D36-37
• 3.2.4 地址序列37-38
• 3.3 测试图形分析38-42
• 3.3.1 全“0”和全“1”图形38-39
• 3.3.2 奇偶图形39-40
• 3.3.3 齐步图形40-42
• 3.4 本章小结42-43
• 第四章 存储器测试环境与测试器件43-51
• 4.1 测试平台43-47
• 4.2 测试目标器件47-50
• 4.2.1 存储器概况47-49
• 4.2.2 NAND存储单元49-50
• 4.3 本章小结50-51
• 第五章 存储器测试实现及其可靠性分析51-62
• 5.1 存储器测试实现51-57
• 5.1.1 存储器参数测试52-53
• 5.1.2 DC参数测试53-54
• 5.1.3 AC参数测试54-57
• 5.2 存储器可靠性分析57-61
• 5.2.1 可靠性理论分析57-58
• 5.2.2 测试结果分析58-61
• 5.3 本章小结61-62
• 结论与展望62-63
• 参考文献63-66
• 致谢66

【参考文献】

中国期刊全文数据库 前7条

1 罗海啸;杨纪明;王育虔;吴培根;;基于SD卡的发动机参数采集存储系统设计[J];测控技术;2012年09期

2 龙乐;;电子封装技术发展现状及趋势[J];电子与封装;2012年01期

3 胡一飞;徐中伟;谢世环;;NAND Flash上均匀损耗与掉电恢复在线测试[J];单片机与嵌入式系统应用;2007年03期

4 孙以材,王静,赵彦晓,田立强,刘江;动态随机存储器IC芯片制造技术的进展与展望[J];半导体技术;2002年12期

5 楼冬明,陈波;数字集成电路测试系统的研制[J];电子技术应用;2001年04期

6 程玲,陈护勋;存储器测试算法的实现[J];计算机与数字工程;1998年05期

7 刘亚,张焕春;电子元器件的发展趋势[J];计算机自动测量与控制;1998年03期

中国硕士学位论文全文数据库 前7条

1 俞加伟;基于ATE的电源芯片的测试系统设计与性能分析[D];东华大学;2015年

2 郭明朝;基于March算法的SRAM内建自测试设计与验证[D];西安电子科技大学;2015年

3 张显敞;存储器测试算法研究及应用实现[D];电子科技大学;2013年

4 姜伟娜;基于NAND Flash存储器的FTL优化算法的设计与实现[D];华东师范大学;2013年

5 张路路;集成电路测试仪总体软件与人机界面设计[D];电子科技大学;2010年

6 雷静;存储器测试方法的研究与测试程序的实现[D];电子科技大学;2009年

7 王曼雨;存储器测试算法与实现[D];西安电子科技大学;2009年

  本文关键词：存储器故障与可靠性试验研究，，由笔耕文化传播整理发布。

本文编号：378182