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高速OTP存储器设计技术研究

发布时间:2017-06-27 16:12

  本文关键词:高速OTP存储器设计技术研究,由笔耕文化传播整理发布。


【摘要】:随着计算机和通信技术的发展,信息安全在信息传输中的作用越来越重要。作为信息存储和数据交换的主要媒介,存储器在芯片系统中所占的比重越来越大,对其性能提出了更高的要求。OTP存储器只允许一次编程,是一种非易失性存储器,其特点是可靠性高、安全性高、抗干扰能力强,在密钥保存、RFID以及空间军事等保密性要求高,环境复杂的场合中应用广泛。论文的目的是设计并实现一款容量为64Kbit的高速OTP存储器。设计工作主要包括存储单元设计、外围读写电路设计及仿真、版图设计以及流片后测试验证。论文首先介绍了OTP存储单元结构的击穿原理,并分析了存储单元的工作机制。然后详细阐述了OTP存储器外围读写电路设计和仿真。其中多维与多级译码电路结构不仅满足存储阵列任意排列的要求,同时也减小了译码信号之间的延迟时间;编程电路采用两级电荷泵结构,用以控制芯片内部单元位线上高压的产生,保证每一位单元编程的时候不会影响相邻位,从而避免误编程操作。本文设计的读出电路中灵敏放大器结构简单,并加入两级锁存器,保证读出的数据真实稳定可靠。另外,读取速度决定了OTP存储器工作速度的快慢,通过修改读取通路上关键器件的参数来调整读取时间的长短,满足设计高速OTP存储器的要求。在版图设计过程中,文中着重强调了一些特殊问题的解决方案,并从版图中提取寄生参数用FineSim工具进行后仿真。如果后仿真结果显示芯片工作有问题,则需查找原因并定位问题,修改电路与版图,然后再进行后仿真,仿真结果达到指标才能流片。流片回来后,对芯片进行功能和参数测试,测试结果显示芯片读写工作正常,常温下最快读取时间为44ns,频率为22.7MHz,达到了芯片的设计指标。
【关键词】:OTP存储器 灵敏放大器 读取时间 测试
【学位授予单位】:电子科技大学
【学位级别】:硕士
【学位授予年份】:2014
【分类号】:TP333
【目录】:
  • 摘要5-6
  • ABSTRACT6-10
  • 第一章 绪论10-15
  • 1.1 研究的背景和意义10-12
  • 1.2 国内外研究现状12-14
  • 1.3 论文结构与主要工作14-15
  • 第二章 OTP存储单元15-22
  • 2.1 存储单元结构15-18
  • 2.2 击穿原理18-19
  • 2.3 存储单元设计19-21
  • 2.4 本章小结21-22
  • 第三章 OTP存储器电路设计及仿真22-53
  • 3.1 总体电路设计22-23
  • 3.2 存储阵列23-25
  • 3.3 地址译码25-27
  • 3.4 双向数据端27-28
  • 3.5 编程电路设计28-36
  • 3.5.1 编程电压接.电路29-31
  • 3.5.2 时钟产生电路31-32
  • 3.5.3 电荷泵32-36
  • 3.6 读出电路设计36-52
  • 3.6.1 地址检测电路37-39
  • 3.6.2 控制电路设计39-45
  • 3.6.2.1 脉冲宽度调整电路39-44
  • 3.6.2.2 控制信号产生电路44-45
  • 3.6.3 灵敏放大器电路设计45-51
  • 3.6.3.1 灵敏放大器电路45-48
  • 3.6.3.2 锁存电路48-49
  • 3.6.3.3 位线负载49-51
  • 3.6.4 读取速度51-52
  • 3.7 本章小结52-53
  • 第四章 版图设计及后仿真53-63
  • 4.1 版图设计53-56
  • 4.1.1 布局布线53-55
  • 4.1.2 特殊处理55-56
  • 4.2 版图验证56-57
  • 4.3 后仿真57-62
  • 4.4 本章小结62-63
  • 第五章 芯片测试63-70
  • 5.1 测试平台63-65
  • 5.2 功能测试65-66
  • 5.3 参数测试66-69
  • 5.4 本章小结69-70
  • 第六章 结论70-71
  • 致谢71-72
  • 参考文献72-74
  • 攻读硕士学位期间取得的成果74-75

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