面向单粒子翻转效应的模拟故障注入技术

发布时间：2017-06-29 20:21

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【摘要】：通过分析基于VHDL模拟故障注入技术对SEU故障注入的不足,提出一种基于VHDL与C语言混合的注入方法。在此基础上,设计实现一款面向SEU的仿真故障注入平台,对该平台的结构及主要模块进行详细的描述。以LEON 2处理器为目标系统进行故障注入实验,实验结果验证了该平台能够实现有效的故障注入。
【作者单位】： 首都师范大学信息工程学院;首都师范大学北京市高可靠嵌入式系统技术工程研究中心;北京数学与信息交叉科学2011协同创新中心;成像技术北京市高精尖创新中心;
【关键词】： 故障注入 单粒子翻转效应 标准硬件描述语言 C语言 可靠性验证
【基金】：国家自然科学基金项目(61472260);国家自然科学基金青年基金项目(61402302) 北京市自然科学基金项目(4132016)
【分类号】：TP332;TP302.7
【正文快照】： 工程研究中心,北京100048;3.北京数学与信息交叉科学2011协同创新中心,北京100048;4.成像技术北京市高精尖创新中心,北京100048)0引言随着集成电路工艺技术的不断发展,器件的集成度越来越高,单粒子翻转效应(SEU)出现的频率也随之增高。因此,具有SEU容错能力对航天处理器尤其重

【参考文献】

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本文编号：499230