X65抗酸管线钢氢致开裂的晶体学表征

发布时间：2021-05-06 23:13

　　采用电子背散射衍射方法（EBSD）对X65MS抗酸管线钢氢致开裂（HIC）的晶体学特征进行了研究,结果表明,{111}//ND取向晶粒和回复、再结晶晶粒具有良好的抗HIC性能,而{101}//ND取向晶粒和变形晶粒具有较高的HIC裂纹敏感性;此外,低值的局部取向错配角（KAM）和大角度晶界（HAGBs）对HIC裂纹萌生和扩展具有抑制作用,而高值的KAM和小角度晶界（LAGBs）则易于HIC裂纹的萌生和扩展。 

【文章来源】：电子显微学报. 2020,39(03)北大核心CSCD

【文章页数】：7 页

【文章目录】：
1 试验材料与方法
2 试验结果与讨论
    2.1 HIC裂纹的形貌观察
    2.2 晶体学分析
    2.3 晶界分析
3 结论



本文编号：3172788