一种用于测试数据压缩的自适应EFDR编码方法

发布时间：2017-10-10 08:06

  本文关键词：一种用于测试数据压缩的自适应EFDR编码方法

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【摘要】：该文提出一种用于测试数据压缩的自适应EFDR(Extended Frequency-Directed Run-length)编码方法。该方法以EFDR编码为基础,增加了一个用于表示后缀与前缀编码长度差值的参数N,对测试集中的每个测试向量,根据其游程分布情况,选择最合适的N值进行编码,提高了编码效率。在解码方面,编码后的码字经过简单的数学运算即可恢复得到原测试数据的游程长度,且不同N值下的编码码字均可使用相同的解码电路来解码,因此解码电路具有较小的硬件开销。对ISCAS-89部分标准电路的实验结果表明,该方法的平均压缩率达到69.87%,较原EFDR编码方法提高了4.07%。
【作者单位】： 湖南大学信息科学与工程学院;
【关键词】： 测试数据压缩 EFDR(Extended Frequency-Directed Run-length)编码 自适应EFDR编码 解码
【基金】：国家自然科学基金(61472123,60673085)~~
【分类号】：TN911.2
【正文快照】： 1引言测试成本的迅速增长是目前集成电路设计制造中的一个主要问题。一方面,随着特征尺寸的减小,集成电路中所包含的IP核与集成的逻辑门数量增多,使得所需测试数据规模增大;而另一方面,自动测试仪(ATE)的工作频率、I/O通道数目、传输带宽、存储能力却增长有限。两者之间的矛盾

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本文编号：1005233