基于时间相关单光子计数技术的密码芯片光辐射分析

发布时间：2017-11-05 15:00

  本文关键词：基于时间相关单光子计数技术的密码芯片光辐射分析

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【摘要】：密码芯片运行时的光辐射可泄露其操作和数据的重要特征信息.基于单光子探测技术,设计并构建了针对CMOS半导体集成电路芯片光辐射信号的采集、传输、处理和分析的光电实验系统.以AT89C52单片机作为实验对象,采用时间相关单光子计数技术,对不同工作电压下密码芯片的光辐射强度进行了对比,分析了芯片指令级光辐射信息的操作依赖性和数据依赖性.此外,使用示波器对时间相关单光子计数技术在芯片光辐射分析上的可行性进行了验证.实验结果表明,采用时间相关单光子计数技术对密码芯片进行光辐射分析,是一种直接有效的中低等代价光旁路分析攻击手段,对密码芯片的安全构成了严重的现实威胁.
【作者单位】： 军械工程学院信息工程系;中国科学院物理研究所 北京凝聚态物理国家实验室;河北师范大学;
【基金】：国家自然科学基金(批准号:51377170) 国家高技术研究发展计划(批准号:2011AA120102) 河北省自然科学基金(批准号:F2012506008)资助的课题~~
【分类号】：TN918.2
【正文快照】： 密码芯片运行时的光辐射可泄露其操作和数据的重要特征信息.基于单光子探测技术,设计并构建了针对CMOS半导体集成电路芯片光辐射信号的采集、传输、处理和分析的光电实验系统.以AT89C52单片机作为实验对象,采用时间相关单光子计数技术,对不同工作电压下密码芯片的光辐射强度进

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1 司马博羽;光子计数激光三维成像系统设计和实现[D];南京理工大学;2013年

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本文编号：1144646