窄带HPM源强电磁传导耦合分析方法研究

发布时间：2018-02-25 08:50

  本文关键词： 传导干扰 强电磁环境 窄带HPM系统 瞬变脉冲群干扰　出处：《微波学报》2014年S2期 　论文类型：期刊论文

【摘要】：针对窄带HPM系统强电磁环境传导干扰的特殊性,采用理论预测、实验测量等方法对强电磁脉冲传导耦合的影响进行研究,分析导致电子仪器设备性能下降的因素,提出一种测量感应传导干扰的方法,该方法适用于对瞬变脉冲群干扰和浪涌干扰的干扰强度进行测量。定性分析测试主要针对微波种子源装置、闸流管触发模块以及激光外触发装置等部位的控制信号线缆,明确传导干扰发生时刻、大小,研究其对仪器设备性能的影响,为强电磁环境下仪器设备防护加固提供技术支撑。
[Abstract]:In view of the particularity of strong electromagnetic environment conduction interference in narrow band HPM system, the influence of strong electromagnetic pulse conduction coupling is studied by means of theoretical prediction and experimental measurement, and the factors leading to the deterioration of the performance of electronic instruments and equipments are analyzed. This paper presents a method to measure the interference intensity of transient pulse group interference and surge interference. The qualitative analysis and test are mainly aimed at microwave seed source device, the method is suitable for measuring the interference intensity of transient pulse group interference and surge interference, and the method is suitable for measuring the interference intensity of transient pulse group interference and surge interference. The control signal cable of thyratron trigger module and laser external trigger device can determine the time and magnitude of conduction interference, study its influence on the performance of instrument and equipment, and provide technical support for the protection and reinforcement of instrument equipment under strong electromagnetic environment.
【作者单位】： 中国工程物理研究院应用电子学研究所高功率微波技术重点实验室;
【分类号】：TN972

【参考文献】

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【共引文献】

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本文编号：1533751