微波暗室内壁剩余强散射点的SAR成像诊断研究

发布时间：2019-08-27 09:16

【摘要】：创新性地提出了采用SAR成像技术对微波暗室内壁剩余强散射点进行二维成像诊断,建立了相应的成像模型,选取了时域B-P算法作为成像算法,并对该算法在暗室内成像进行了仿真验证。仿真结果表明,时域B-P算法能够获得暗室内壁剩余强散射点分布的高分辨率、高精度二维像。采用SAR成像技术实现微波暗室内壁的二维成像诊断对经济、有效地提高暗室电性能具有实际的意义。
【作者单位】： 北京遥感设备研究所;
【分类号】：TN957.52

【共引文献】

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本文编号：2529675