平面相控阵宽角扫描技术

发布时间：2022-12-25 17:47

　　宽角扫描技术是近年来平面相控阵研究领域的热点和难点。从2008年起,电子科技大学计算电磁学团队便开展了相关研究工作,提出了利用方向图可重构技术突破平面相控阵宽角扫描瓶颈的理论和实验方案,并逐步发展了基于电磁镜像原理、表面波辅助设计、磁流源技术、非周期阵列和时间反演自适应优化等理论和方法,用于实现平面相控阵宽角扫描。文章回顾了该团队在平面相控阵宽角扫描领域的研究历程,并对其研究发展做出展望。 

【文章页数】：7 页

【部分图文】：

方向图可重构技术实现平面相控阵宽角扫描[17]

镜像原理解释宽角扫描[22]

具有宽波束辐射性能的MpE和JpM单元天线[22]

【参考文献】：
博士论文
[1]具有宽角度扫描特性的非周期天线阵列研究[D]. 程友峰.电子科技大学 2018
[2]平面大角度扫描及高增益阵列研究[D]. 郭家伽.电子科技大学 2018
[3]平面微带相控阵天线大角度低旁瓣扫描问题研究[D]. 温亚庆.电子科技大学 2017
[4]基于人工电磁材料的宽角扫描相控阵天线研究[D]. 李梅.电子科技大学 2016
[5]基于方向图可重构技术的相控阵大角度扫描特性研究[D]. 丁霄.电子科技大学 2013
[6]方向图可重构天线单元及其在阵列中的应用研究[D]. 柏艳英.电子科技大学 2012

硕士论文
[1]矢量天线及其在宽角扫描阵列天线中的应用研究[D]. 高敏.中国航天科技集团公司第五研究院西安分院 2018
[2]平面大角度扫描相控阵研究[D]. 王府生.西安电子科技大学 2018



本文编号：3727072