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一种抗攻击密码电路的设计与实现

发布时间:2017-07-28 11:26

  本文关键词:一种抗攻击密码电路的设计与实现


  更多相关文章: 功耗分析攻击 功耗分析攻击平台 密码电路 WDDL


【摘要】:随着集成电路的发展,嵌入式产品的应用越来越广泛。但与此同时,一些应用场合对嵌入式产品的安全性提出了很高的要求,其中,对抵抗功耗分析攻击的要求尤为高。恒定功耗单元是抵抗功耗分析攻击十分有效的方法,而WDDL技术因具有资源消耗低、可移植性、可设计性等特点而得到广泛研究。本文重点研究了基于WDDL的抗功耗分析攻击DES密码电路的设计与实现。首先,本文介绍了功耗分析攻击的物理基础,阐述了各种功耗分析攻击技术的原理与方法,分析了现有的抗功耗分析攻击措施的优缺点,确定了本文基于WDDL的密码电路设计路线。其次,本文设计了基于FPGA的WDDL半定制设计流程,并在FPGA上实现差分布线。同时,本文设计了实测功耗分析攻击平台对设计的抗功耗分析攻击密码电路进行测试分析。最后,根据FPGA设计的成功经验,本文实现了基于SMIC-0.18um工艺的WDDL密码电路,设计了WDDL的ASIC设计前端和后端流程,并提出交叉线的差分布线方法,提高了差分布线负载平衡效果。同时,本文还设计了基于电子设计自动化软件的仿真功耗分析攻击平台,对WDDL的ASIC抗功耗分析攻击密码电路进行了测试评估。论文中给出了仿真和实测结果。实测结果表明,FPGA的抗攻击DES密码电路在50万条功耗轨迹下仍然未能攻破。仿真验证表明,攻破ASIC的抗攻击DES密码电路所需要的功耗轨迹数量是攻破无防护密码电路所需要功耗轨迹数量的150倍,WDDL的DES密码电路的抗功耗攻击能力大幅提高。
【关键词】:功耗分析攻击 功耗分析攻击平台 密码电路 WDDL
【学位授予单位】:东南大学
【学位级别】:硕士
【学位授予年份】:2015
【分类号】:TN918.4
【目录】:
  • 摘要4-5
  • ABSTRACT5-9
  • 第一章 绪论9-13
  • 1.1 论文的背景9-10
  • 1.2 国内外的研究现状10-11
  • 1.3 论文的主要工作和结构安排11-13
  • 第二章 功耗分析攻击理论及防护措施13-33
  • 2.1 功耗分析攻击的物理基础13-21
  • 2.1.1 功耗的基本构成14-17
  • 2.1.1.1 静态功耗14-15
  • 2.1.1.2 动态功耗15-17
  • 2.1.2 功耗轨迹的统计特性17-21
  • 2.1.2.1 功耗轨迹的组成18
  • 2.1.2.2 单功耗点特性18-21
  • 2.2 功耗分析攻击原理与技术21-25
  • 2.2.1 简单功耗分析攻击原理21-22
  • 2.2.2 差分功耗分析攻击原理22-23
  • 2.2.3 相关系数功耗分析攻击原理23-25
  • 2.3 功耗分析攻击防护技术25-31
  • 2.3.1 掩码技术25-28
  • 2.3.1.1 布尔掩码与算术掩码25
  • 2.3.1.2 架构级掩码技术25-27
  • 2.3.1.3 元件级掩码技术27-28
  • 2.3.2 隐藏技术28-31
  • 2.3.2.1 随机化功耗技术29
  • 2.3.2.2 恒定功耗单元技术29-31
  • 2.4 本章小结31-33
  • 第三章 WDDL抗功耗攻击密码电路FPGA设计与验证33-63
  • 3.1 FPGA的WDDL单元库设计33-38
  • 3.1.1 组合逻辑单元设计34-36
  • 3.1.2 时序逻辑单元设计36-38
  • 3.2 WDDL的DES密码电路FPGA设计38-49
  • 3.2.1 DES算法设计38-40
  • 3.2.2 DES密码电路设计40-42
  • 3.2.3 WDDL的DES密码电路设计42-47
  • 3.2.4 FPGA复制差分布线方法实现47-49
  • 3.3 FPGA实测功耗攻击平台设计49-58
  • 3.3.1 功耗轨迹采集系统设计49-55
  • 3.3.1.1 采样电路设计50-51
  • 3.3.1.2 示波器的配置51-52
  • 3.3.1.3 采样系统上位机软件设计52-55
  • 3.3.2 功耗轨迹预处理算法设计55-56
  • 3.3.2.1 功耗轨迹对齐算法设计55
  • 3.3.2.2 功耗轨迹压缩算法设计55-56
  • 3.3.3 功耗攻击模型的建立56
  • 3.3.4 实测平台功耗攻击结果56-58
  • 3.4 FPGA的抗攻击DES密码电路抗攻击能力测试与分析58-61
  • 3.4.1 CPA攻击测试参数设置与测试过程58-59
  • 3.4.2 CPA攻击测试结果59-60
  • 3.4.3 功耗攻击测试结果分析60-61
  • 3.5 本章小结61-63
  • 第四章 WDDL抗功耗攻击密码电路ASIC设计与验证63-93
  • 4.1 WDDL的ASIC库单元设计63-71
  • 4.1.1 组合逻辑单元设计63-65
  • 4.1.2 时序逻辑单元设计65-66
  • 4.1.3 基于SMIC-0.18um工艺的WDDL单元功耗平衡性分析66-70
  • 4.1.4 单元面积与功耗开销70-71
  • 4.2 WDDL的DES密码电路ASIC设计71-83
  • 4.2.1 基于WDDL的半定制电路设计方法71-75
  • 4.2.2 差分布线技术75-83
  • 4.2.2.1 差分布线的意义75-76
  • 4.2.2.2 基于Galaxy Custom Router的差分布线方法实现76-77
  • 4.2.2.3 复制差分布线方法实现77-80
  • 4.2.2.4 复制方法产生的毛刺问题及其解决方法80-82
  • 4.2.2.5 差分布线效果对比82-83
  • 4.3 基于EDA软件的ASIC仿真功耗攻击平台设计83-88
  • 4.3.1 目标工艺库的功耗模型83-85
  • 4.3.2 EDA软件介绍85
  • 4.3.3 基于仿真的功耗攻击平台工作流程85-86
  • 4.3.4 无防护DES密码电路的仿真功耗攻击结果86-88
  • 4.4 ASIC的抗攻击DES密码电路抗功耗攻击能力测试与分析88-92
  • 4.4.1 CPA攻击测试参数设置与测试过程88-89
  • 4.4.2 CPA攻击测试结果89-90
  • 4.4.3 功耗攻击测试结果分析与对比90-92
  • 4.5 本章小结92-93
  • 第五章 总结与展望93-95
  • 5.1 总结93-94
  • 5.2 展望94-95
  • 致谢95-97
  • 参考文献97-103
  • 作者简介103

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