开关电源控制芯片可测性电路的设计

发布时间：2017-08-21 02:22

  本文关键词：开关电源控制芯片可测性电路的设计

  更多相关文章： PSR开关电源控制芯片 故障覆盖率 可测性设计 端口复用 测试模式 计时滤波器

【摘要】：开关式电源已成为便携式电子设备的主要供电电源,其中控制芯片是其核心部件。随着集成度的不断提高,控制芯片在制造过程中引入的故障儿率很高,测试问题变得越来越复杂,导致测试开销在总开销中所占的比例越来越高。为了快速有效地检测控制芯片中的缺陷,同时降低测试的成本和周期,需要对开关电源的可测性设计展开研究。本文分析了PSR数字开关电源控制芯片可测性技术的发展情况及设计方法,并结合开关电源控制芯片自身的特点,提出了一套适用于开关电源控制芯片的测试方案。接着研究了实际使用中可能存在的各种干扰,并针对这些干扰设计了切实有效的滤除干扰措施。为了不增加端口成本,将端口复用技术应用在开关电源控制芯片的可测性设计中。同时复用技术也应用在测试模式电路设计中,利用芯片中现有的电路实现测试模式的功能,提高了电路的利用率,减少了测试电路的面积。此外,论文还研究了降低测试周期的有效方法。最后根据一款开关电源控制芯片的测试指标要求,设计了一种测试电路和具体版图,测试电路的面积为11869.8pm2。仿真验证表明：测试模式的最长链长为36万个矢量单位,采用两组测试向量,故障覆盖率为大于96%,实现对时钟和复位信号实时控制。仿真结果还显示论文所设计的测试电路能有效抵御外界干扰,确保了测试电路正常工作。另外,本测试电路还预留了测试模式扩展口,这将使本设计具有更好的灵活性和兼容性。
【关键词】：PSR开关电源控制芯片 故障覆盖率 可测性设计 端口复用 测试模式 计时滤波器
【学位授予单位】：东南大学
【学位级别】：硕士
【学位授予年份】：2015
【分类号】：TN86
【目录】：

• 摘要4-5
• Abstract5-8
• 第一章 绪论8-12
• 1.1. 课题背景介绍8-9
• 1.2. 国内外研究现状9-10
• 1.3. 研究内容10-11
• 1.4. 论文组织结构11-12
• 第二章 开关电源控制芯片可测性技术综述12-22
• 2.1. 可测性技术12-15
• 2.2. 开关电源控制芯片可测性技术15-16
• 2.3. 故障模型16-19
• 2.4. PSR开关电源控制芯片常见故障19-20
• 2.5. 小结20-22
• 第三章 开关电源控制芯片可测性设计原理分析22-32
• 3.1. 开关电源控制芯片端口复用方法22-24
• 3.2. 测试模式端口复用原理24-26
• 3.3. 测试模式保护机制26-28
• 3.4. 常见测试指标要求28-30
• 3.5. 测试模式工作流程30-31
• 3.6. 小结31-32
• 第四章 测试模式电路设计32-44
• 4.1. 测试电路主要功能模块32-34
• 4.2. 触发测试模式电路设计及仿真34-38
• 4.3. 测试模式跳变电路设计及仿真38-41
• 4.4. 测试结果输出电路设计41-42
• 4.5. 时钟可控电路设计及仿真42-43
• 4.6. 小结43-44
• 第五章 测试模式工作状态设计44-60
• 5.1.测试模式切换期间测试内容44-45
• 5.2. 各模式测试内容45-52
• 5.3. 前仿真设计结果52-54
• 5.4. 版图设计54-58
• 5.5. 设计指标和后仿真结果对比58-59
• 5.6. 小结59-60
• 第六章 总结与展望60-62
• 6.1. 总结60
• 6.2. 展望60-62
• 参考文献62-64

【参考文献】

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本文编号：710278