一种基于方位谱重采样的大斜视子孔径SAR成像改进Omega-K算法

发布时间：2017-09-25 13:44

  本文关键词：一种基于方位谱重采样的大斜视子孔径SAR成像改进Omega-K算法

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【摘要】：斜视SAR数据两维波数域支撑区具有斜拉特性,并且斜视角越大,斜拉越明显;在大斜视成像时,常规Omega-K成像直接选取矩形支撑区进行处理,支撑区利用率低,难以满足成像分辨率要求。针对子孔径大斜视SAR数据成像,该文提出一种基于方位谱重采样的改进Omega-K算法。该算法通过坐标轴旋转,实现波数谱支撑区利用率的最大化,针对伴随的方位空变问题,采用方位谱重采样方法校正空变性,实现方位统一聚焦。另外,由于对于子孔径数据处理,考虑位置支撑区受限,不同于传统Omega-K方法,改进Omega-K算法在方位波数域成像,避免了位置域成像需要的大量补零操作,提高了处理效率。点目标数据仿真和实测数据处理验证了该文算法的有效性与实用性。
【作者单位】： 西安电子科技大学雷达信号处理国家重点实验室;
【关键词】： SAR成像 大斜视 子孔径 方位谱重采样 改进Omega-K算法
【分类号】：TN957.52
【正文快照】： 1引言随着合成孔径雷达(Synthetic Aperture Radar,SAR)成像技术的发展,实时性成为很多成像系统的必备要求,而子孔径成像概念的提出使成像分辨率与成像效率达到一种平衡。子孔径数据成像具有数据录取时间短的特点,保证了实时性,同时避免了由于长时间录取数据而导致的方位向相

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本文编号：917696