基于数字全息术的近场成像与应用
发布时间:2021-08-16 20:38
近场是指局域在物体表面附近亚波长范围内的空间区域。倏逝波存在于近场区域,可利用其与物质的相互作用特性对位于近场区域的某些介质样品进行高分辨率成像,及对样品物性变化进行高灵敏度测量,其中,基于全内反射和表面等离子体共振的近场成像与测量方法已在许多领域获得广泛应用。将数字全息术与这类近场测量方法相结合,可进一步有效解决自近场区域反射光波的相位分布的高精度全场动态测量问题。重点介绍基于全内反射数字全息术和表面等离子体共振全息显微术的近场成像方法与测量应用研究进展。
【文章来源】:光学学报. 2020,40(01)北大核心EICSCD
【文章页数】:17 页
【部分图文】:
直角棱镜-电介质界面处的全反射
TIR相移φ随电介质折射率n2变化的理论曲线
在利用TIR数字全息术测量电介质样品折射率n2(x,y)的基础上,进一步引入透射式数字全息显微术(DHM),利用介质对透射光波相位的调制原理,还可同时获得待测介质的几何厚度h(x,y)[73],可表示为图4 不同质量分数的甘油-水混合溶液引起的反射光波的相位差分布实验测量结果[72]。
【参考文献】:
期刊论文
[1]数字全息显微术中重建物场波前的相位校正[J]. 邸江磊,赵建林,范琦,姜宏振,孙伟伟. 光学学报. 2008(01)
本文编号:3346352
【文章来源】:光学学报. 2020,40(01)北大核心EICSCD
【文章页数】:17 页
【部分图文】:
直角棱镜-电介质界面处的全反射
TIR相移φ随电介质折射率n2变化的理论曲线
在利用TIR数字全息术测量电介质样品折射率n2(x,y)的基础上,进一步引入透射式数字全息显微术(DHM),利用介质对透射光波相位的调制原理,还可同时获得待测介质的几何厚度h(x,y)[73],可表示为图4 不同质量分数的甘油-水混合溶液引起的反射光波的相位差分布实验测量结果[72]。
【参考文献】:
期刊论文
[1]数字全息显微术中重建物场波前的相位校正[J]. 邸江磊,赵建林,范琦,姜宏振,孙伟伟. 光学学报. 2008(01)
本文编号:3346352
本文链接:https://www.wllwen.com/kejilunwen/wulilw/3346352.html
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