光栅莫尔条纹信号细分方法设计与Simulink仿真

发布时间：2017-10-26 16:34

  本文关键词：光栅莫尔条纹信号细分方法设计与Simulink仿真

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【摘要】：根据计量光栅莫尔条纹信号高精度细分的要求,提出了一种基于ADC幅值采样和相位解算的光栅细分方法,并利用Simulink搭建仿真模型,使两路正余弦信号通过正余切变换、幅值采样、固定相位步长细分等处理后输出为两路正交编码信号。仿真实验表明,该细分方法在输入理想信号情况下细分倍数主要与ADC采样精度有关,提高ADC采样位数可有效提高最大细分倍数。通过在两路时变sin/cos信号中添加幅值不等、相位不正交以及高次谐波分量等干扰噪声的仿真实验,验证了该方法的细分精度与信号质量有关。
【作者单位】： 军械工程学院;军械技术研究所;北京航天计量测试技术研究所;
【关键词】： 仿真建模 幅值采样 相位解算 莫尔条纹细分 噪声干扰
【分类号】：TN911.7
【正文快照】： 1引言在精密仪器与测试领域,计量光栅以其稳定性好、抗干扰能力强等优点而得到广泛应用,并且随着精密检测技术对仪器分辨率以及测试速度要求的提高,光栅莫尔条纹细分技术需要在高速追踪和纳米级测量方面有所突破[1~3]。光栅测量技术在位移、角度计量方面的应用主要是以光栅迭

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本文编号：1099536