基于三坐标测量机的副反射面测量技术

发布时间：2018-03-06 14:04

  本文选题：三坐标测量机　切入点：副反射面　出处：《无线电通信技术》2016年06期 　论文类型：期刊论文

【摘要】：针对高频反射面天线中对其表面精度要求高的问题,提出了基于三坐标测量机的副反射面测量方案。通过理论分析给出了副反射面测量过程中三坐标测量机的采点方案,将曲面测量转化为曲线测量;讨论了测量数据处理中测头半径补偿和曲线匹配等关键问题,消除了系统误差的影响,提高了测量精度;得到了被测副反射面的表面精度,并用图形表示出来。理论和实验表明该测量方案的有效性。
[Abstract]:In order to solve the problem of high precision of the surface of high frequency reflector antenna, a measuring scheme of the surface of the reflector based on CMM is put forward, and the sampling scheme of CMM in the process of measuring the surface of the reflector is given through theoretical analysis. The surface measurement is transformed into curve measurement, the key problems such as probe radius compensation and curve matching in data processing are discussed, the influence of system error is eliminated, and the measuring accuracy is improved, and the surface accuracy of the measured pair reflection surface is obtained. The theoretical and experimental results show that the proposed scheme is effective.
【作者单位】： 中国电子科技集团公司第五十四研究所;
【分类号】：TN820

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