多波长及宽带超表面色散特性研究
【学位授予单位】:中国科学院光电技术研究所
【学位级别】:博士
【学位授予年份】:2017
【分类号】:TN713;TN929.1
【图文】:
多波长及宽带超表面色散特性研究获得卫星用轻量化的微波天线透镜,研究了相应的人工介电质[7]。1967 年,前苏联物理学家 V.G. Veselago 发表了探究介质与光波中的磁场分量相互作用问题的论文,指出根据介电常数(ε)和磁导率(μ)的符号 (正或负) 标定不同的介质,首次从理论上研究了双负材料——即介电常数和磁导率都为负的材料(ε<0和μ<0),他给出麦克斯韦方程的解,并说明介质的折射率为负值,称之为左手材料,后来也被称为负折射率材料[8]。但由于自然界中在任何波段都不存在这种天然的左手材料。尽管可见光波段的介电常数和微波段的磁导率可能为负,但是没有“双负”材料的存在,该理论研究成果在之后的 30 多年没有引起广泛关注,甚至还受到质疑。导致这 30 多年里,关于左手材料的研究几乎没有获得进展[9]。
光线在 x-z 平面内从一个与 x 轴角度成θi入射时,广义折射定律可( ) ( )( ) ( )001 dsin sind1 dcos sindt t i it t tn nk xnk yφθ θφθ = = 义反射定律可以被表述为:( ) ( )( ) ( )001 dsin sind1 dcos sindi r i ii r rn nk xnk yφθ θφθ = = ni和 nt分别为入射(反射)空间和出射空间折射率,θt和θr分别为角, 为超表面的相位分布。通过相位排布可以实现对透射和反方向进行调制,用于光学器件的设计时,仅仅通过一个超薄表面光束偏折、聚焦等功能。
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