液晶屏边缘检测的研究与实现
【学位授予单位】:电子科技大学
【学位级别】:硕士
【学位授予年份】:2019
【分类号】:TN873.93
【图文】:
图2-1邋TFT-LCD图
是一种较为严重的缺陷类型。因此一旦发现,整块基板都很可能会报废,取决于裂逡逑纹的深度。逡逑如图2-3邋(a,b,c)所示为本文分析针对的液晶屏的部分缺陷样本,其中图2-3邋(a)逡逑存在明显崩缺陷,图2-3邋(b)存在细小崩缺陷,图2-3(c)存在裂缺陷。本文的工作即逡逑需将相应的缺陷进行良好的识别、定位与参数判定。逡逑(a)逦(b)逦(c)逡逑图2-3崩缺陷和裂缺陷样本示例(a)明显崩缺陷;(b)细小崩缺陷;(c)裂缺陷逡逑8逡逑
是一种较为严重的缺陷类型。因此一旦发现,整块基板都很可能会报废,取决于裂逡逑纹的深度。逡逑如图2-3邋(a,b,c)所示为本文分析针对的液晶屏的部分缺陷样本,其中图2-3邋(a)逡逑存在明显崩缺陷,图2-3邋(b)存在细小崩缺陷,图2-3(c)存在裂缺陷。本文的工作即逡逑需将相应的缺陷进行良好的识别、定位与参数判定。逡逑(a)逦(b)逦(c)逡逑图2-3崩缺陷和裂缺陷样本示例(a)明显崩缺陷;(b)细小崩缺陷;(c)裂缺陷逡逑8逡逑
【参考文献】
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本文编号:2779320
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