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准远场天线测量修正方法研究

发布时间:2021-10-16 20:30
  远场测量是获得天线辐射特性的一种常用方法。然而对于一维电尺寸大,另一维电尺寸小的天线,如基站天线,由于场地因素的限制,往往不能满足远场测量条件,用近场测量又费时费力。在这种准远场条件下,天线测量结果与远场情况下的测量结果有较大差异。本文基于柱面波展开,给出了一种由准远场距离上测得的方向图计算远场的理论计算方法,经过该算法补偿后的结果与理论计算结果吻合很好,从而验证了算法的正确性。 

【文章来源】:宇航计测技术. 2020,40(03)CSCD

【文章页数】:5 页

【部分图文】:

准远场天线测量修正方法研究


阵列示意图

模型图,模型图,天线,远场


1)均匀分布阵列,45°极化,单元间距为0.6λ,Nx分别为8,16,准远场采样距离为2m。45°极化8单元和16单元阵列方向图比较,如图3和图4所示。首先,使用2D2/λ作为远场条件计算两种情况的远场距离,分别为4.6m和18.5m。图3显示了当采样距离略小于远场条件所要求的距离时,这时采样距离为准远场距离,准远场结果在旁瓣区域与理论远场方向图有差异,由准远场外推算法修正后的结果与理论远场方向图是一致的。从图4可以看出,当采样距离明显小于远场条件时,这时采样距离为准远场距离,在主瓣和副瓣区域都出现严重畸变。尽管如此,由算法修正后的结果仍与理论结果吻合良好。

比较图,远场,方向图,阵列


首先,使用2D2/λ作为远场条件计算两种情况的远场距离,分别为4.6m和18.5m。图3显示了当采样距离略小于远场条件所要求的距离时,这时采样距离为准远场距离,准远场结果在旁瓣区域与理论远场方向图有差异,由准远场外推算法修正后的结果与理论远场方向图是一致的。从图4可以看出,当采样距离明显小于远场条件时,这时采样距离为准远场距离,在主瓣和副瓣区域都出现严重畸变。尽管如此,由算法修正后的结果仍与理论结果吻合良好。图4 45°极化16单元阵列方向图比较图

【参考文献】:
期刊论文
[1]基于MARS的多径干扰抑制方法与实验研究[J]. 洪涛,高雨辰,姜文,龚书喜.  宇航计测技术. 2019(06)
[2]16单元蜂窝移动通信双频基站天线设计[J]. 郭榕,翁子彬,焦永昌.  微波学报. 2007(06)



本文编号:3440449

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