一种光模块组件的加速硫化腐蚀寿命预估模型

发布时间：2021-11-22 08:09

　　随着光通信设备在不同地区、不同环境下的广泛部署,工程中出现了多起由于机房环境不合格导致的光模块硫化腐蚀失效事件,客户对光模块在含硫环境下工作寿命预估的需求越来越强烈。文章提出了一种应用加速硫化腐蚀对光模块内部易腐蚀组件（电阻和磁珠）建立寿命预估模型的方法,该方法以威布尔分布作为基准失效函数,以相同环境应力或不同环境应力作为协变量,利用电阻和磁珠加速硫化腐蚀试验的失效率数据进行模型参数估计,对寿命预估模型进行了研究。研究结果表明,该加速试验结果与工程失效数据吻合,该寿命预估模型能够满足工程中光模块寿命的预估需求。 

【文章来源】：光通信研究. 2020,(04)北大核心

【文章页数】：6 页

【部分图文】：

电阻硫化腐蚀机理图

图2所示为磁珠硫化腐蚀机理图,如图所示,从左至右分别为磁珠腐蚀后的无损X-ray成像图、切片扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscope,SEM)成像图和腐蚀物能量散射型X射线(Energy-Dispersive X-ray Spectroscopy,EDX)成像图(黄绿色为硫化物)。贴片磁珠的外部由铁氧体烧结而成,内部使用银箔作为导体线圈,含硫物可以通过磁珠的铁氧体烧结后不致密的小缝隙渗入内部,“蚕食”内部银箔电极,导致磁珠的电流电阻(Directive Current Resistance,DCR)变大甚至开路。银硫化腐蚀的化学原理为

我们的思想是通过数学变换将上述复杂的关系转换成线性函数,将失效分析大大简化。图3所示为威布尔坐标纸示意图,将式(5)按照概率纸工具在双对数坐标系下近似简化为如图所示的直线。接下来,我们将利用加速寿命试验来确定产品的失效分布规律,从而进一步建立寿命预估模型用以评估通信电子产品在高硫环境下的工作寿命。

【参考文献】：
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本文编号：3511288