太赫兹频段紧缩场系统检测技术研究

发布时间：2017-05-25 17:10

  本文关键词：太赫兹频段紧缩场系统检测技术研究，由笔耕文化传播整理发布。

【摘要】：由于微波暗室尺寸有限,对于较大目标难以获得良好的平面波入射条件。紧缩场是一种在近距离内利用光滑的反射面或透镜等设施将馈源发出的球面波转换为平面波的测试设备。它所提供的良好的平面波环境可以充分满足天线方向图的测试和RCS测量的远场条件,进而达到在近距离内对天线和目标RCS进行测试的目的。太赫兹频段紧缩场系统检测技术是太赫兹频段目标识别技术的前沿。本文紧密结合太赫兹频段紧缩场系统检测技术的研究背景,对我方自行设计并委托西安恒达微波技术开发公司机械加工制作的太赫兹频段单反射面紧缩场进行系统的搭建装调,并对系统测试误差进行分析。通过对8mm、2mm以及1mm频段系统平面波区参数的测试(包括静区幅度差、相位差),大量测试结果表明在距离反射面中心3m处,0.2m×0.2m的范围符合太赫兹频段反射面型紧缩场在1mm频段S21幅度差≤±3dB,相位差≤±22.5°的静区技术指标,此套系统达到了太赫兹频段的平面波区测试要求。本论文研究成果对于促进太赫兹频段紧缩场检测技术与应用的发展具有理论意义和工程应用价值,为日后利用紧缩场系统进行太赫兹频段天线和目标特性的测试打下了基础。
【关键词】：紧缩场 太赫兹 检测技术 平面波区测试
【学位授予单位】：北京理工大学
【学位级别】：硕士
【学位授予年份】：2016
【分类号】：TN820
【目录】：

• 摘要5-6
• Abstract6-9
• 第1章 绪论9-12
• 1.1 研究背景9
• 1.2 研究现状9-10
• 1.3 论文的主要工作10-11
• 1.4 论文的结构安排11-12
• 第2章 太赫兹频段紧缩场系统设计12-19
• 2.1 紧缩场暗室设计方法12-13
• 2.2 边缘绕射分析13-14
• 2.3 反射面设计过程14-16
• 2.4 太赫兹频段紧缩场系统组成16-17
• 2.4.1 紧缩场系统天线16-17
• 2.4.2 微波暗室17
• 2.5 太赫兹频段紧缩场系统工作原理和工作指标17-18
• 2.6 本章小结18-19
• 第3章 测试原理与测试方法19-27
• 3.1 测试内容19
• 3.2 测试原理及测试系统设计19-24
• 3.2.1 测试原理19-20
• 3.2.2 测试环境及辅助调整结构20-24
• 3.3 测试方法24-25
• 3.3.1 测试步骤24
• 3.3.2 紧缩场静区平面度测试调整方法24-25
• 3.4 本章小结25-27
• 第4章 测试误差分析与控制要求27-38
• 4.1 接收端转台铺设吸波材料的误差分析27-33
• 4.1.1 接收端模型构建28
• 4.1.2 接收端仿真结果28-33
• 4.2 测量平面与辐射场等相位面不平行情况下的误差分析33-37
• 4.2.1 接收端二维扫描架扫描平面偏角误差分析34-36
• 4.2.2 发射端紧缩场反射面及馈源偏角误差分析36-37
• 4.3 本章小结37-38
• 第5章 测试实施过程与技术改进措施38-87
• 5.1 测试实施过程概述38
• 5.2 接收端无转台测试38-69
• 5.2.1 8mm频段紧缩场装调及静区平面度测试38-58
• 5.2.2 2mm频段紧缩场装调及静区平面度测试58-69
• 5.2.3 接收端无转台情况测试结论及存在问题分析69
• 5.3 接收端有转台测试69-86
• 5.3.1 1mm频段紧缩场装调及静区平面度测试69-84
• 5.3.2 接收端有转台测试结论及仿真对比分析84-86
• 5.4 本章小结86-87
• 结论87-89
• 附录89-96
• 参考文献96-99
• 攻读学位期间发表论文与研究成果清单99-100
• 致谢100

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