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过孔的不同干法刻蚀工艺对TFT-LCD性能的影响研究

发布时间:2017-07-30 14:29

  本文关键词:过孔的不同干法刻蚀工艺对TFT-LCD性能的影响研究


  更多相关文章: 干法刻蚀 侧面接触方式 过孔 液晶面板 低温多晶硅技术


【摘要】:为了改善过孔的干法刻蚀中刻蚀率的不同导致SD线和P-Si接触面积不一致的问题,同时解决ELA工艺导致PSi表面突起而造成SD与P-Si点状接触的问题,探究了过孔的不同干法刻蚀工艺对TFT-LCD性能的影响,从中找出最佳的过孔干法刻蚀工艺。利用京东方产线设备制备了两种不同的LTPS阵列样品,样品一的过孔工艺采用传统的底部接触方式,样品二采用新的侧面接触方式,样品一和样品二其余的工艺过程一致。实验结果表明:多点的U-I曲线由发散变为集聚,电子迁移率有所提高;SEM数据表明采用侧面接触方式能够完全将P-Si刻穿。采用侧面接触方式能够明显的解决干法刻蚀中刻蚀率的不同导致SD线和P-Si接触面积不一致的问题,同时避免了ELA工艺导致P-Si表面突起而造成SD与P-Si点状接触的问题,电学性能有所改善,同时减少了工艺时间,提高了产能。
【作者单位】: 鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司;
【关键词】干法刻蚀 侧面接触方式 过孔 液晶面板 低温多晶硅技术
【分类号】:TN305.7;TN873.93
【正文快照】: 1引言液晶面板显示技术高速发展,人们对液晶面板的要求也越来越高[1-2]。低温多晶硅作为显示领域新一代的技术,从开发至今已有十几年的历史,利用该技术的液晶面板具有更快的响应速度和更高的分辨率[3-4]。过孔是连接SD线(SourceDrain Line)和P-Si(Polysilicon)的通道,它主要是

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本文编号:594704

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