基于Hamming weight和泄漏光子数的高级加密标准密码芯片光辐射分析攻击

发布时间：2017-08-22 21:47

  本文关键词：基于Hamming weight和泄漏光子数的高级加密标准密码芯片光辐射分析攻击

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【摘要】：通过研究密码芯片运行时的光辐射迹及其数据依赖性,建立了操作数汉明重量与泄漏光子数的对应关系,提出了一种简单有效的针对高级加密标准(AES)加密算法的密码芯片光辐射分析方法.根据密码芯片运行时的光泄漏特性,利用时间相关单光子计数技术搭建了光辐射分析攻击实验平台,在AES加密算法执行第一次的轮密钥加操作后和字节替换操作后分别进行光泄露信号采集,对基于操作数Hamming weight和AES密码芯片泄漏光子数对应关系的密钥分析攻击方法的有效性进行了实验验证,通过选择几组明文成功地破解了AES加密算法的密钥.实验结果表明,当密码芯片的泄露光子数与操作数的汉明重量呈近似线性关系时,该种光辐射密钥分析攻击方法对AES密码芯片的安全性构成了严重的威胁.
【作者单位】： 军械工程学院信息工程系;中国科学院物理研究所北京凝聚态物理国家实验室;
【关键词】： 高级加密标准 光辐射分析攻击 密码芯片 汉明重量
【基金】：国家自然科学基金(批准号:51377170,11304007) 河北省自然科学基金(批准号:F2012506008)资助的课题~~
【分类号】：TN918.4
【正文快照】： 择性要远胜于功耗、电磁等分析攻击.通过选取密1引言码芯片特定位置/区域进行攻击可以得到信噪比非常好的光旁路信号,这是由于光泄漏信号主要由我光旁路攻击是利用密码芯片运行时的光辐射们所关心的密码芯片的相关指令操作及其操作数特性或者某种光(激光、紫外线等)对密码芯片

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本文编号：721165