天线辐射性能并行测试场研究

发布时间：2017-09-15 19:33

  本文关键词：天线辐射性能并行测试场研究

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【摘要】：常规的解决多天线辐射性能批量测量问题采用的是一个天线测量暗室进行分时段测量或者使用多个暗室进行测量的方法。上述方法存在着测量效率低以及测量试验自动化程度低等问题,同时由于天线电磁解算难以通过解析表达,使得天线量化分析比较困难。为解决上述问题,提出对多发射源以及配套的天线测量机构进行空域组合的试验方案,难点在于如何建立精准的多天线辐射性能测试场电磁模型并且分析多发射源结构之间的互耦影响以及对被测天线在同时工作情况下指向发生变化时它们之间可能会出现的耦合影响等关键问题进行研究进而论证方案可行性。对所建立的天线测试场模型进行仿真计算。仿真结果表明,新建立的天线测试场模型中各发射源位置选择恰当,结构间耦合影响满足环境指标要求,解决了多天线批量远场测试问题,能够为多天线辐射性能并行测量提供参考。
【作者单位】： 北京控制与电子技术研究所;中国航天科工二院;
【关键词】： 天线测量暗室 多天线辐射性能 天线测试场 互耦
【分类号】：TN820
【正文快照】： _ 1 U胃 工程中对天线辐射性能的测量通常是在射频微波暗室中进行,目前国内外解决工程多天线方向图批量测试问题采用的是使用一个暗室进行分时段测量或者使用多个暗室进行测量的方法,比如文献[7]通过建立单个缩比暗室模型对天线辐射性能进行分析,文献[8]中通过建立分布式天线

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本文编号：858474