光腔衰荡技术测量超高反射光学元件损耗的误差分析

发布时间：2017-10-10 03:16

  本文关键词：光腔衰荡技术测量超高反射光学元件损耗的误差分析

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【摘要】：本文从测试腔长与初始腔长不一致、探测器耦合方式分析了连续光腔衰荡技术测量超高反射率元件损耗的误差。测量结果表明,在635 nm波长,常规1 000级超净实验室空气损耗系数约10 ppm/m,当测试腔长比初始腔长长20 cm时,导致测试样品损耗测量结果偏大约2 ppm。另外,当采用交流(AC)耦合方式探测CRD信号时将使衰荡信号波形失真,通过实验对比直流(DC)耦合和AC耦合结果,发现采用AC耦合将使损耗测量结果偏低约2 ppm。实验结果与分析表明测量超高反射率元件损耗时应保证测试腔腔长与初始腔腔长一致,并且采用足够带宽的直流耦合探测方式。
【作者单位】： 中国科学院光电技术研究所;电子科技大学光电信息学院;
【关键词】： 光腔衰荡 高反射率测量 空气损耗 耦合方式
【基金】：国家自然科学基金资助项目(60878038)
【分类号】：TH74
【正文快照】： 0引言随着镀膜技术的快速发展,广泛使用在高功率激光系统、引力波探测、激光陀螺、腔增强和腔衰荡光谱等中的低损耗、高反射光学元件性能已大大提高,其损耗已低至几十ppm甚至几ppm以下。基于分光光度技术的常规检测方法如光透射法、多次反射法等由于测量精度的限制无法准确测

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本文编号：1004014