适用于推扫式成像光谱仪的CCD拖尾扣除方法

发布时间：2017-10-10 06:27

  本文关键词：适用于推扫式成像光谱仪的CCD拖尾扣除方法

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【摘要】：拖尾(smear)现象是面阵CCD器件的固有问题。在推扫式成像光谱仪中,拖尾对成像的作用形式较为特殊,传统的扣除方案已不再适用,急需新的适合这一应用场合的方法。通过建立光谱仪中拖尾现象的数学模型,分析并仿真了常规拖尾扣除方法的失真问题,提出了适合推扫式光谱仪器的新方法。新方法使用已知图像信息估计景物的光谱分布,以此计算光学暗行通道所代表的拖尾信号在每个应用通道中的贡献,进而实现拖尾现象的扣除。遥感图像处理结果的较为理想的LSF表明,新方法效果良好,适用于推扫式成像光谱仪中CCD拖尾现象的扣除。
【作者单位】： 中国科学院上海技术物理研究所;中国科学院大学;
【关键词】： 推扫式成像光谱仪 CCD 拖尾现象
【基金】：国家高技术研究发展计划(国家863计划)项目(2012AA121102)资助
【分类号】：TH744.1
【正文快照】： 引言推扫式成像光谱仪由于结构简单、驻留时间长等特点,已成为星载成像光谱仪的驻留方案。通过前置光学镜头、狭缝和分光组件的配合,狭缝形窗口内的目标被色散到面阵探测器上。与常规的焦平面成像应用相比,光谱仪的成像方式比较特殊,一些常用的分析与处理方法也不再适用,CCD拖

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