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基于发射率模型约束的多光谱辐射真温反演法

发布时间:2017-11-15 04:18

  本文关键词:基于发射率模型约束的多光谱辐射真温反演法


  更多相关文章: 真温 发射率模型约束 亮度温度 多光谱辐射测温


【摘要】:温度测量是工业生产或科学实验中保证产品质量、降低生产成本和确保实验安全的重要因素之一。目前非接触的测温方法以辐射测温法为主,二次测量法是多光谱辐射测温中一种常用的方法。但是,二次测量法不适用于实时数据处理。针对此问题,基于多光谱亮度温度数学模型引入了发射率模型约束条件,提出了一种多光谱辐射真温快速反演法。对于非黑体,根据不同波长下的亮度温度的关系,得出当亮度温度在一个区间内是增函数或者常数函数时,发射率在该区间内是增函数;当亮度温度在一个区间内是减函数时,则发射率在该区间内满足一个关于发射率和波长的不等式。该发射率模型约束条件根据亮度温度的信息,将发射率假设值的构建由多类减少到一类,避免了不必要的发射率的构建。实验分别采用实际发射率随波长单调下降、单调上升、先下降再上升、先上升再下降和随机变化的具有代表性的五个被测目标,针对两个被测温度点进行了仿真对比分析。结果表明,与二次测量法相比,对于同一个被测目标,在相同的温度初值和相同的发射率搜索范围下,新算法在保证精度的情况下,不仅所得结果相同,而且处理速度提升了19.16%~43.45%。
【作者单位】: 哈尔滨工业大学电气工程及自动化学院;
【基金】:国家重大科学仪器设备开发专项(2013YQ470767)资助
【分类号】:TH811
【正文快照】: 引言在工业生产或科学实验中,精确的温度测量是保证产品质量、降低生产成本和确保实验安全的重要因素之一。目前非接触的测温方法以辐射测温法为主,辐射测温计具有响应速度快、无测量上限、不接触被测目标等优点,在航天、能源、冶金、材料等领域中得到了广泛应用[1-3]。辐射测

【参考文献】

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本文编号:1188326

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