X-荧光仪在铝工业分析中的应用

发布时间：2017-12-08 15:26

  本文关键词：X-荧光仪在铝工业分析中的应用

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【摘要】：利用X荧光仪分析铝及铝合金中的杂质含量,对测试条件的选择、标准曲线的绘制、基体效应的校正、方法准确度、精密度几个方面进行了研究。生产实践证明:用X荧光仪测定铝及铝合金中铁、硅、锰、锌、钛、镁六种元素含量的相对标准偏差(n=10)在0.09%~3.36%之间。X射线荧光光谱分析方法精密度高、准确度高、简便、快速,分析成本低,在铝工业中完全可以应用于实际分析,是分析检测发展的重要方向。
【作者单位】： 贵州理工学院材料与冶金工程学院;
【基金】：贵州理工学院高层次人才科研启动经费项目“复杂电解质中成分准确分析技术研究”(编号:XJGC20130903)
【分类号】：TH744.4
【正文快照】： X射线荧光光谱分析法是一种非破坏性的仪器分析方法,因其光谱由原子内层电子跃迁产生,一般与元素的化学价态和样品存在形式(固体、粉末、液体等)无关,可应用于表面层状态或镀层厚度的测定,该法较发射光谱等其他仪器分析方法谱线单纯、干扰少、容易解析,能对光谱连续扫描,便于

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