DLS纳米粒度仪噪声剔除方法探讨与计量检定
本文关键词:DLS纳米粒度仪噪声剔除方法探讨与计量检定
【摘要】:为提高动态光散射(dynamic light scattering,DLS)纳米粒度仪测量准确度与稳定性、适应JJG 1104——2015《动态光散射粒度分析仪检定规程》要求,通过系统分析仪器噪声来源与影响程度,将接收光强信号分为3部分,推导出光强信号自相关函数的数学式,并从其物理意义出发,提出针对性的噪声剔除方法。通过搭建仪器软硬件平台进行实验,可以看出仪器示值误差7%,重复性为0.9%,表明噪声剔除方法有效,能满足规程要求。
【作者单位】: 广东省计量科学研究院广东省现代几何与力学计量重点实验室;华南师范大学物理与电信工程学院;
【基金】:国家重大科学仪器设备开发专项(31-311206YQH)
【分类号】:TH74
【正文快照】: 0引言动态光散射技术是研究亚微米、纳米颗粒粒径及其分布的重要手段[1-2]。但由于光强散射信号较微弱,极易受噪声影响,小粒径颗粒更难准确测量。因此,国家质检总局发布检定规程JJG 1104——2015,对DLS粒度仪的准确度与重复性等性能指标作出规定[3]。为使仪器能够满足要求,提
【参考文献】
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本文编号:1298076
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