基于双Schwarzschild结构的平面光栅光谱仪

发布时间：2017-12-21 17:11

  本文关键词：基于双Schwarzschild结构的平面光栅光谱仪　出处：《光学精密工程》2014年09期 　论文类型：期刊论文

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【摘要】：为了满足高分辨率大相对孔径宽波段高光谱成像仪的要求,提出并设计了一种基于双Schwarzschild结构的平面光栅光谱仪。基于几何像差理论,推导出了像散校正条件,利用Matlab软件编制了初始结构参数快速计算程序。作为实例,设计了一个相对孔径为1/2.5,波段为350~1 000nm的平面光栅光谱仪光学系统。利用自己编制的Matlab程序计算了初始结构参数,然后利用光学设计软件ZEMAX-EE对该光谱仪的光学系统进行了光线追迹和优化设计,并对设计结果进行分析。结果表明,在整个工作波段(350~1 000nm)内,点列图半径均方根值小于8.2μm,实现了大相对孔径宽波段像散同时校正,在宽波段内同时获得了良好的成像质量,满足了设计指标要求。所提出的基于双Schwarzschild结构的平面光栅光谱仪在高光谱遥感领域很有应用前景。
【作者单位】： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所;中国科学院大学;
【基金】：国家自然科学基金资助项目(No.41105014) 中科院长春光机所领域前沿创新项目
【分类号】：TH744.1
【正文快照】： 1引言高空间分辨率和高光谱分辨率的高光谱成像仪(以下简称高分辨率高光谱成像仪)是在多光谱遥感技术基础上发展起来的新一代航天和航空光学遥感仪器,它能以高分辨率同时获取目标的空间和光谱信息,因此在航天和航空光学遥感中具有独特优势[1-4]。高分辨率高光谱成像仪普遍采用

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本文编号：1316494