不同谐振状态下弹光调制器的品质因数分析

发布时间：2017-12-22 05:32

  本文关键词：不同谐振状态下弹光调制器的品质因数分析　出处：《中国激光》2015年04期 　论文类型：期刊论文

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【摘要】：为了提高弹光调制器在高压驱动下的工作效率,以提高傅里叶变换光谱仪的光谱分辨率,在建立弹光调制器的损耗模型和振动方程的基础上,描述了包含损耗因数的弹光调制器幅频特性,并推导了谐振和反谐振频率下弹光调制器的品质因数。结合压电材料的电致伸缩效应及其损耗,分析了高压驱动下各损耗因数之间的关系,提出了一种较谐振驱动具有更高品质因数和调制深度的反谐振驱动方法。实验验证,当驱动电压在500~1200 VP-P范围内,反谐振驱动方法较传统的谐振驱动方式,品质因数和调制深度均提高了43%,有效地提高了弹光调制器的工作效率。
【作者单位】： 中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室;中北大学信息与通信工程学院;中北大学电子测试技术国家重点实验室;
【基金】：国家自然科学基金(61127015) 科技部国际科技合作项目(2012DF)
【分类号】：TH744.1;O799
【正文快照】： 1引言弹光调制傅里叶变换光谱仪(PEM-FTS)基于对弹光晶体双折射率的非线性调制以产生干涉图,其弹光调制器的谐振频率一般在30~50 k Hz,以致于每秒钟可产生上万张干涉图,可满足爆燃、爆轰等瞬态光谱探测的需求[1-3]。其高速性是现有傅里叶变换光谱仪无法比拟的。弹光调制器(PEM

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本文编号：1318632