超小口径元件光谱参数检测设备改进
发布时间:2018-01-16 07:05
本文关键词:超小口径元件光谱参数检测设备改进 出处:《科学技术与工程》2015年03期 论文类型:期刊论文
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【摘要】:为实现超小光学元件(直径小于φ15 mm)光谱参数的检测,在现有商用分光光度计的基础上,对设备进行了改进完善,通过在测试光路和参考光路增加衰减比相匹配的缩束小孔,成功实现了检测光束的缩束。实验结果表明:改进后的设备基线平直度不大于!0.001 A,标准元件检测结果与标定值偏差不超过0.05%。
[Abstract]:In order to detect the spectral parameters of ultra-small optical elements (diameter < 蠁 15mm), the equipment is improved and perfected on the basis of existing commercial spectrophotometers. The experimental results show that the experimental results show that the baseline flatness of the improved device is not greater than that of the improved device by increasing the beam shrinkage holes which match the attenuation ratio in the test light path and the reference light path. 0. 001 A, the deviation between the standard component test results and the calibration value is not more than 0. 05.
【作者单位】: 中国工程物理研究院
【分类号】:TH744.1
【正文快照】: 光学元件光谱参数主要包括透射率、反射率、透反率不均匀性等,直接影响到通过光学系统的输出光束强度,是评价光学元件质量的关键指标[1,2]。尤其在高功率激光系统中,对该项指标提出了很高的要求,通常提到了99.5%"99.8%,这就要求对系统中光学元件的光谱参数进行高精度的检测。
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,本文编号:1432024
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