电化学腐蚀制备原子力显微镜探针

发布时间：2018-05-01 10:27

  本文选题：原子力显微镜 + 探针制备　； 参考：《实验技术与管理》2014年03期

【摘要】：研究了实验室条件下采用电化学腐蚀方法制备原子力量微镜探针的工艺及实验参数对探针腐蚀精细程度的影响。实验设备虽然简单,但能制备出实用的探针。在制备过程中变量较多,可操作性强,使学生能深刻理解探针与样品表面相互作用过程,并对原子力显微镜的应用有初步的了解。
[Abstract]:The preparation process of atomic force micromirror probe by electrochemical etching under laboratory conditions and the influence of experimental parameters on the corrosion fineness of the probe were studied. Although the experimental equipment is simple, it can produce practical probe. In the process of preparation, there are many variables and strong maneuverability, which enables students to understand the process of interaction between probe and sample surface, and to understand the application of atomic force microscope (AFM).
【作者单位】： 北京航空航天大学物理科学与核能工程学院;北京航空航天大学微纳测控与低维物理教育部重点实验室;
【基金】：国家自然科学基金项目(61371008) 北京市自然科学基金项目(4132038)资助
【分类号】：TH742.9

【参考文献】

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【共引文献】

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【二级参考文献】

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